Cтраница 2
Стилоскоп применяется главным образом для сортировки сплавов по маркам или их группам, например в термических и скра-повых цехах, а также для определения малых содержаний элементов в экспресс-лабораториях металлургических цехов. [16]
Воспроизводимость измерений при обычном методе невысока и характеризуется относительным стандартным отклонением результатов определений 0 02 - - 0 05 в зависимости от прецизионности прибора. Этот метод применяют для определения малых содержаний элементов ( 10 - 3 - 10 - 10 %) или единиц процентов. Для расширения интервала определяемых концентраций ( 10 %) и повышения воспроизводимости анализа применяют дифференциальный фотометрический метод. Воспроизводимость дифференциального фотометрического метода характеризуется величиной относительного стандартного отклонения 0 005 - 0 01 и приближается к воспроизводимости классических гравиметрических и тит-риметрических методов. В то же время метод является более быстрым, чем гравиметрический. [18]
Вместо ожидаемого падения отношения освещенностей Еп / Е при s s0 снижение его начиналось практически для всех исследованных фотоматериалов при ширине щели, превышавшей нормальную ширину примерно в два раза. Отсюда следует, что в связи с эффектом светорассеяния в эмульсионном слое разрешающая способность фотоматериалов, очевидно, ниже приводимой обычно в справочных данных. В сравнении с рекомендуемой Для определения малых содержаний элементов нормальной шириной щели это ведет к выигрышу в светосиле используемого спектрального прибора без потери в эффективной разрешающей способности. [19]
Вместо ожидаемого падения отношения освещенностей Ел / Еф при s s0 снижение его начиналось практически для всех исследованных фотоматериалов при ширине щели, превышавшей нормальную ширину примерно в два раза. Отсюда следует, что в связи с эффектом светорассеяния в эмульсионном слое разрешающая способность фотоматериалов, очевидно, ниже приводимой обычно в справочных данных. В сравнении с рекомендуемой для определения малых содержаний элементов нормальной шириной щели это ведет к выигрышу в светосиле используемого спектрального прибора без потери в эффективной разрешающей способности. [20]
Любое влияние на аналитический сигнал, вызывающее его ухудшение, называется помехой. В случае аддитивной помехи присутствие какого-либо постороннего компонента в пробе приводит к сложению аналитического-сигнала с сигналом, обусловленным этим компонентом. Это проявляется в параллельном смешении градуировочного графика. Аддитивные помехи более существенны при определении малых содержаний элементов. Важно отметить, что метод добавок неприменим при существовании аддитивных помех. [21]