Cтраница 1
Определение толщины пленок, образовавшихся на титане в процессе трехчасовой анодной поляризации ( 40 % - ная H2SO4, 80 С) показало, что при более положительных потенциалах на титане образуются менее толстые пленки. [1]
Определение толщины пленок по экстремумам на спектральных кривых основано на периодическом изменении коэффициента отражения стекла ( или другого материала) по мере увеличения толщины поверхностной пленки. [2]
Определение толщин пленок, образовавшихся на титане в процессе 3-часовой анодной поляризации ( 40 % H2SO4, 80 С) показало, что при более положительных потенциалах на титане образуются менее толстые пленки. Время самоактивации образцов в этих условиях после отключения тока потенциостатической поляризации растет от 9 2 до 21 и 24 мин с увеличением потенциала поляризации от 0 7 до 1 0 и 1 4 В. Таким образом, пленки, образованные на титане при потенциале 0 7 В, будучи более толстыми, активировались быстрее и являлись менее защитными, чем это наблюдалось на пленках, образовавшихся при р 1 4 В. Электронографически установлено, что анодные пленки всегда состоят из двуокиси титана в виде двух модификаций: рутила и анатаза. Причем большему значению потенциала формирования пленки соответствует большее относительное содержание анатаза по сравнению с рутилом. [4]
Прибор для определения толщины пленок, снабженный зажимом и циферблатом. [5] |
Для определения толщины пленки окрашенную панель прочно закрепляли на плите прибора и отмечали по циферблату показания прибора, установленного на пленке. [6]
Для определения толщины пленки, образующейся на стенках пор в естественных нефтяных пластах, нами были проведены специальные исследования с кернами различных месторождений. В этих исследованиях извлеченный из скважин керн, содержащий погребенную воду и нефть, продували азотом до постоянной эффективной проницаемости, после чего определяли его динамическую пористость. [7]
Прибор для определения толщины пленок, снабженный зажимом и циферблатом. [8] |
Для определения толщины пленки окрашенную панель лрочно закрепляли на плите прибора и отмечали по циферблату показания: прибора, установленного на пленке. [9]
Для определения толщины пленки на подложке из цветных металлов ( немагнитных) применяют прибор ТПН-IV, состоящий из накладного датчика и измерительного блока и представляющий собой электроиндуктивный толщиномер в диапазоне 5 - 300 мкм. [10]
Методы определения толщины пленок и листов. [11]
Методы определения толщины пленок, например, при помощи микроскопа или двойного микрогкопа Линника, а также методы, основанные на измерении емкости конденсатора, которым является лакокрасочная пленка, нанесенная на металлическую пластинку, методы, основанные на измерении диэлектрической проницаемости пленок, и др. не нашли еще практического применения, хотя и заслуживают большого внимания. [12]
При определении толщины пленок спектрофотометрическим методом [109, 111, 112] необходимо знать показатель преломления при одной длине волны и иметь представление о степени однородности поверхностной пленки. Спектрофотометрический метод основан на определении длины волны, соответствующей интерференционному минимуму зеркального отражения при падении, близком к нормальному. [13]
При определении толщин пленок из емкостных и оптических измерений необходимо знать их диэлектрическую проницаемость и показатель преломления соответственно. Расчет этих величин производится обычно в допущении аддитивного сложения этих параметров ( е и п) пропорционально объемным долям углеводородных радикалов ПАВ и растворителя в пленке. [14]
Рассмотрим здесь определение толщин пленок, нанесенных на подкладку другого состава, например состоящую из слоя олова на стали. [15]