Рентгенографическое определение

Cтраница 1

Рентгенографическое определение показало, что структуры Ca ( NOs) 2, Sr ( NOs) a и Ва ( 1ЧОз) а имеют ( если отвлечься от расположения атомов в структурной группе NOs) некоторое сходство с решеткой флюорита ( рис. 62, стр. Ионы металлов в каждом случае образуют гранецент-рированную кубическую решетку. [1]

Рентгенографическое определение показало, что структуры Ga ( NOs) 2, Sr ( NOs) 2 и Ba ( NOs) 2 имеют ( если отвлечься от расположения атомов в структурной группе NOs) некоторое сходство с решеткой флюорита ( рис. 62, стр. Ионы металлов в каждом случае образуют гранецент-рированную кубическую решетку. [2]

Рентгенографическое определение КТР производится следующим образом: измеряется положение дифракционного профиля соответствующего отражения hi при различных температурах Т в необходимом температурном интервале, и по измеренным значениям Ф ( Т) строится графическая зависимость In sin К Затем функциональную зависимость In sin & дифференцируют по температуре либо графически, либо аналитически и получают температурную зависимость КТР кристалла. [3]

Рентгенографическое определение степени кристалличност является достаточно точным, если на рентгенограмме имеются четки кристаллические рефлексы и аморфное гало с ясно выраженным максимумом интенсивности. Однако на рентгенограммах многих полиме ] ров вместо аморфного гало наблюдается лишь общий фон, интенсив ность которого не имеет максимума и постепенно уменьшается по мв ре удаления от центра рентгенограммы. [4]

Рентгенографическое определение величины кристаллов основано на том, что ширина полос на рентгенограмме зависит от величины участков вещества с упорядоченным расположением атомов. Чем больше эти участки, тем уже и резче выражены полосы на рентгенограмме. Затем по кривой находят ширину полос. Для этого существует несколько способов и соответствующих формул расчета величины кристаллов. Этот метод применим для определения величины кристаллов в пределах 20 - 300 А. Для более крупных кристаллов ширина полос остается практически неизменной. [5]

Схема распределения электронной плотности для различных типов связи ( определяемого рентгенографически. [6]

Рентгенографическое определение типа связи или, иначе, распределение электронов между отдельными типами атомов, основано на том, что рассеивание рентгеновских лучей вызывается электронами. Как на этой основе можно отличить ионную решетку от атомной, особенно в простом случае, когда существуют два рода атомов, которые в ионной форме имеют одинаковое число электронов, было уже рассмотрено ( см. стр. Но если этот простой случай не имеет места, все равно путем очень точных измерений интенсивности линий можно рассчитать распределение электронов между различными видами атомов. При этом часто получают числа, отклоняющиеся от значений, вычисленных в предположении, что заряды ионов равны их валентностям, а именно в том смысле, что рентгенографически определяемые заряды ( часто дробные числа) меньше соответствующих валентностей. В таких случаях существует не чисто гетерополярная связь. [7]

Определение степени кристалличности полиэтилена. [8]

Рентгенографическое определение степени кристалличности является достаточно точным, если па рентгенограмме имеются четкие кристаллические рефлексы н аморфное гало с ясно выраженным максимумом интенсивности. Однако на рентгенограммах многих полимерой вместо аморфного гало наблюдается лишь сильный общий фон. Интенсивность такого фона не имеет определенного максимума и постепенно уменьшается по мере удаления от центра к периферии pen i гемограммы. Такой характер распределения интенсивности па рентгенограмме часто называют ааяовым фоном, поскольку аналогичная картина уменьшения интенсивности наблюдается на рентгенограмма многих га ов. Поэтому определение степени кристалличности по рентгенограммам с силь-газовым фоном недостаточно обосновано. [9]

Схема распределения электронной плотности для различных типов связи ( определяемого рентгенографически. [10]

Рентгенографическое определение плотности дислокаций в работах [22, 38, 62 ] проведено на основании использования стандартных рентгеновских методик, и толщина анализируемых слоев составляла около 10 мкм и более. [12]

Определение степени кристалличности полиэтилена. [13]

Рентгенографическое определение степени кристалличности является достаточно точным, если на рентгенограмме имеются четкие кристаллические рефлексы и аморфное гало с ясно выраженным максимумом интенсивности. Однако на рентгенограммах многих полимеров вместо аморфного гало наблюдается лишь сильный общий фон. Интенсивность такого фона не имеет определенного максимума и постепенно уменьшается по мере удаления от центра к периферии решгенограммы. Такой характер распределения интенсивности па рентгенограмме часто называют газовым фоном, поскольку аналогичная картина уменьшения интенсивности наблюдается на рентгенограммах многих газов. Оценка интенсивности газового фона на рентгенограммах полимеров является сложной задачей и может быть проведена только приближенно. Поэтому определение степени кристалличности по рентгенограммам с силь-ньгм газовым фоном недостаточно обосновано. [15]

Страницы: 1 2 3 4