Рентгенографическое определение

Cтраница 2

Рентгенографическое определение степени кристалличности ЯЕ ляется достаточно точным, если па рентгенограмме имеются чстг и кристаллические рефлексы и аморфное гало с ясно выраженны ] максимумом интенсивности. Однако на рентгенограммах многи полимеров вместо аморфного гало наблюдается лишь сильны общий фон. Интенсивность такого фона не имеет определенног максимума и постепенно уменьшается по мере удаления от центр к периферии решгемограммы. Такой характер распределения HI теисцвностн па рентгенограмме часто называют газовым фонол нескольку аналогичная картина уменьшения интенсивности наблк дается на рентгенограммах многих газов. Поэтом определение степени кристалличности по рентгенограммам с силь ньгм газовым фоном недостаточно обосновано. [16]

Рентгенографическое определение степени перерождения динаса все шире применяется в промышленности. На кривых расширения ясно выражены эффекты обратимых превращений кварца и кристобалита, но плохо заметны объемные эффекты тридимита. Зато рентгеновскими методами все эти кристаллические фазы точно идентифицируются. [17]

Нормированная инте-тральная интенсивность рас-сеяния и определенная по ней кристалличность образцов по - ( ДА2СН3 / 1000 С. [18]

Надежное рентгенографическое определение кристалличности полиэтилена, как функции температуры, весьма затруднительно. [19]

Рентгенографическое определение ориентировок индивидуальных кристаллов а-фазы показало, что реальная ориентационная связь между решетками отклоняется от предложенных моделей. [20]

Рентгенографическое определение структуры нормальных пропиловых соединений дало дальнейший, очень интересный пример молекул, содержащих атомы золота в четверной координации. [21]

Точность рентгенографического определения постоянной решетки Да ограниченна вследствие тепловых колебаний атомов, а также дисперсионных особенностей рассеяния рентгеновского излучения. [22]

Результаты рентгенографического определения периода кристаллической решетки свидетельствуют о его низком значении в тонких поверхностных слоях. [23]

Метод рентгенографического определения модулей упругости кристаллической решетки основан на регистрации величины смещения характерного межплоскостного расстояния Ad от исходного положения d0 в зависимости от величины статического напряжения о, действующего на высокоориентированный образец полимера. & dld0), где Оц и о - значения растягивающего напряжения, действующего на образец при его нагружении соответственно вдоль и перпендикулярно оси макромолекулы. Относительная погрешность значений Е и Е ( табл. 6.4) составляет 3 - 5 %, а точность абсолютных значений зависит от гомогенности распределения напряжения в образце согласно модели последовательного соединения кристаллических и аморфных участков. [24]

Эллипсоид деформации ( в скобках показано направление напряжений.| Графическое определение величины деформации. [25]

При рентгенографическом определении макронапряжений глубина анализируемого слоя не превышает нескольких десятков микрометров ( глубины проникновения рентгеновских лучей), что существенно меньше толщины изделия. [26]

Изложенный метод рентгенографического определения КТР является достаточно строгим. В то же время он позволяет наиболее рационально обрабатывать большое число экспериментальных данных и, по-видимому, может оказаться удобным при автоматизированном эксперименте и его обработке на вычислительных машинах. [27]

Разработанный метод рентгенографического определения молекулярной упорядоченности в аморфных полимерах основан на соотношении между интенсивностями когерентного рассеяния ( жидкостного типа) и независимого рассеяния ( газового типа), измеренных по микрофотометрическим кривым. [28]

Методически задача рентгенографического определения степени кристалличности сводится к измерению интенсивности дифракционного спектра неориентированного образца и его делению на составные части, соответствующие аморфной и кристаллической фракциям полимера. Самым ответственным моментом в рентгенографическом анализе является правильное и для всех образцов одинаковое определение площади, соответствующей кристаллической и некристаллической ( аморфной) частям полимера на микрофотометрической кривой. Выполнение этой операции в случае полиморфных веществ сопряжено с большими трудностями, так как не удается получить при нормальных условиях чисто аморфный полимер. [29]

Проведены два независимых рентгенографических определения структуры. [30]

Страницы: 1 2 3 4