Физическая основа - метод
Cтраница 1
Физическая основа метода состоит в том, что при интерференционных замираниях фазовые соотношения между интерферирующими волнами в двух точках, расположенных на разных высотах, различны. [1]
 |
Метод получения теневых фигур по Маноггу. [2] |
Физическая основа метода иллюстрируется рис. 2, Надрезанный образец из прозрачного материала, нагруженный внешними силами, освещается параллельным пучком света. [3]
Физическая основа метода состоит в том, что спектры люминесценции молекулы-индикатора, введенной в исследуемую среду с неизвестными свойствами ( в нашем случае цеолит), сопоставляются с поведением этого же индикатора в средах, воздействие которых на него известно. В качестве зондов используются многие молекулы, но чаще всего ароматические, так как их спектры люминесценции и поглощения расположены в доступной области спектра. [4]
Физическая основа методов регулирования путем изменения давления генерируемого пара и температуры воды, подаваемой в экономайзер котла-утилизатора, заключается в том, что количество тепла, воспринятого поверхностью, пропорционально средней логарифмической разности температур горячей и холодной воды, а также в зависимости этой разности от давления насыщения и температуры воды на входе в котел-утилизатор. [5]
Физическую основу метода ИНДОР составляет обобщенный эффект Оверхаузера, обсуждавшийся выше, в котором распределение Больцмана для какого-либо определенного перехода в спиновой системе нарушается под воздействием второго поля В2, и это проявляется как изменение интенсивности прогрессивно и регрессивно связанных линий. [6]
Физической основой метода является зависимость скорости прохождения звуковых волн от плотности среды. Так, скорость распространения звука в стали равна примерно 5100 м / с. При получении такой скорости звука считается, что цементный камень за колонной отсутствует. Прибор состоит из источника звуковых колебаний с частотой 25 кгц и приемника, измеряющего время прохождения звука от источника до приемника. [7]
Физической основой метода служит факт возникновения спекл-структуры при освещении когерентным светом незеркальной поверхности. Спекл-структура есть результат перекрестной интерференции диффузно рассеянной предметной волны, полностью детерминированной состоянием и расположением на освещаемой поверхности рассеивающих центров. Если данную поверхность сместить на достаточно малую величину XQ в собственной плоскости и ее изображение зарегистрировать на тот же самый фотоматериал, то на нем окажутся записанными две идентичные спекл-структуры, смещенные относительно друг друга на расстояние Мох0, где Л / о - масштаб изображения. [8]
Физической основой метода является уравнение (2.32), согласно которому х возрастает пропорционально концентрации ионов. [9]
 |
Связь технической диагностики, неразрушающего контроля, механики разрушения и метода АЭ. [10] |
Физической основой метода АЭ является акустическое излучение при пластической деформации твердых сред, развитии дефектов, трении, прохождении жидких и газообразных сред через узкие отверстия - сквозные дефекты. Эти процессы неизбежно порождают волны, регистрируя которые, можно судить о протекании процессов и их параметрах. Метод АЭ обладает рядом достоинств, благодаря которым расширяются возможности технической диагностики и неразрушающего контроля. [11]
Систематическое изложение физических основ метода меченых атомов представляется желательным еще и потому, что применение этого метода является делом химиков, биологов и медиков, которые, естественно, несколько далеки от физики. [12]
Основное внимание уделяется физическим основам методов квантовой химии и разъяснению смысла вводимых при расчетах понятий. С целью знакомства в ограниченных пределах с математическим аппаратом теории, авторы сочли необходимым конспективно изложить математическую сторону вопроса. Чтобы сделать чтение понятным, изложению этого материала предшествует краткое математическое введение. Разъясняются также некоторые основные понятия квантовой механики. [13]
В работе [3] кроме физических основ метода представлена также и принципиальная схема разделительного процесса. [14]
Первый том посвящен изложению физических основ методов исследования и регистрации быстропротекающих процессов. Рассматриваются вопросы измерения коротких интервалов времени и высоких температур, принципы высокоскоростного осциллографи-рования различных процессов, методы радиоэлектрических измерений, искровые источники света и рентгеновских лучей, приемы высокоскоростной фотографии в видимом свете и рентгеновских лучах. [15]
Страницы: 1 2 3