Cтраница 2
В книге приведены сведения о физических основах методов применения радиоактивных изотопов для изучения внутрикотловых процессов, даются описания экспериментальных устройств, технические характеристики радиометрических приборов, защитного и вспомогательного оборудования и методов организации безопасной работы. [16]
В монографии Камена удовлетворительно сочетается описание физических основ метода и его техники с характеристикой его приложения в биологии. [17]
Во второй главе были описаны два близких по своей физической основе метода, позволяющих успешно решать указанную задачу: смешанный метод и один из вариантов условно-экстремального метода. Ниже детально рассмотрим алгоритмизацию одного из них, стараясь предельно использовать ранее разработанный основной алгоритм метода сил. [18]
Из рассмотренных основных физических методов неразрушающего контроля изделий следует, что каждый из них имеет определенные пределы применения, зависящие от физических основ метода и его чувствительности к выявлению тех или иных дефектов. Поэтому при выборе метода дефектоскопии следует особенно тщательно проанализировать характер отдельных дефектов и в соответствии с ним назначить тот или иной способ контроля. [19]
Рэтклиффа [306] в которых обобщен накопленный к середине 1960 - х годов опыт теоретических и экспериментальных исследований, впервые продемонстрирована возможность практического использования явления акустоупругости в технике как физической основы метода диагностики, обладающего приемлемой точностью. МГц в стали, алюминии, меди и некоторых других материалах; вычислены УМТП поликристаллических конструкционных материалов; предприняты первые попытки измерения остаточных напряжений в изогнутом бруске и деформированном диске. Главным достоинством этих работ следует признать детальный анализ трудностей, возникающих при ультразвуковом контроле напряжений, и реалистическую оценку перспектив развития нового метода диагностики. [20]
Здесь уместно отметить, что в связи с тем, что магнитографический метод объединил две достаточно разработанные в теоретическом отношении области технической физики: магнитную порошковую дефектоскопию и технику записи электрических сигналов, на первой стадии его развития не было уделено должного внимания изучению физических основ метода. В то время, когда качество сварочных работ не отличалось высоким уровнем, несовершенство способов магнитографической дефектоскопии было мало заметно. [21]
Физическая основа метода состоит в следующем. Образец, содержащий вызванную концентратором ( трещиной) сингулярность напряжений и нагруженный внешними силами, освещается параллельным пучком света. Повышение интенсивности напряжений в зоне, окружающей конец трещины, вызывает два эффекта: уменьшает толщину пластины и изменяет показатель преломления материала. Следовательно, в первом приближении область, содержащая сингулярность напряжений, действует как рассеивающая линза, отклоняющая лучи света от оси пучка. Эти лучи образуют сильно освещенную сингулярную поверхность. При этом на экране, расположенном на удалении от образца и пересекающем эту поверхность, возникает сингулярная кривая ( каустика), ограничивающая теневую зону. Метод каустик, таким образом, основан на преобразовании сингулярного поля напряжений в оптическую сингулярность ( каустику), причем размер каустик удается однозначно связать с коэффициентами интенсивности напряжений. [22]
Опытные работы на Ильмовском месторождении по чередующейся закачке воды и нефти, добываемой из залежи бобриковского горизонта, проводятся с середины 1981 года. Физическая основа метода заключается в том, что в пласте создается последовательное чередование зон с высокой и низкой подвижностью флюида. В результате этого повышается фильтрационное сопротивление на высокопроницаемых участках и увеличивается охват заводнением пласта. Лабораторные исследования, выполненные под руководством Глумова И. Ф., показали возможность увеличения нефтеотдачи на 5 - 6 % по сравнению с обычным заводнением. [23]
Им разработан метод управления свойствами путем изменения их атомной структуры, названный структурной модификацией свойств материала. Физической основой метода структурной модификации является наличие ряда минимумов на зависимости потенциальной энергии некристаллических ( в частности, стеклообразных) веществ от обобщенной координаты E ( Rj) и воспроизводимый перевод ( вынуждаемый переход) материала из одного минимума в другой. [25]
Данная книга посвящена применению ядерного магнитного резонанса ( ЯМР) к проблемам медицины и биологии. Изложение физических основ метода ЯМР приведено в достаточно простой форме, так что доступно для понимания широкого круга специалистов, а не только физиков. Отличительной особенностью этой кннги является то, что в ней с единой точки зрения обсуждаются разнообразные медико-биологические приложения метода ЯМР и рассматриваются связи, существующие между ЯМР высокого разрешения в жидкостях, спектроскопией in-vivo и томографией. [26]
Рассеяние света связано с рядом особенностей структуры полимеров и широко используется для их исследования. При рассмотрении физических основ метода светорассеяния для исследования свойств полимеров выявляются особенности рассеяния и структуры полимеров, существенные при их использовании в качестве оптических материалов. [27]
В книге подробно обсуждаются методы синтеза пространственно-затрудненных аминов, нитроксилов и спин-меченых биологически активных веществ, в том числе с помощью нерадикальных реакций радикалов, и каталцз в окислительно-восстановительных реакциях нитроксилов. Ряд татей посвящен дальнейшему развитию физических основ метода и основан на успехах синтетической химии нитроксильных радикалов. Здесь представлены оригинальные работы по основам и использованию метода ЭПР в миллиметровом диапазоне длин волн, изучению спинового обмена в нитроксилах методом непрерывного насыщения спектров ЭПР, применению математических методов в решении обратной задачи метода спиновых меток и расчете спектров ЭПР бирадикалов. [28]
Рентгенографические исследования второго класса структур основаны на использовании специфического метода - метода рассеяния рентгеновских лучей под малыми углами. Поэтому в настоящей работе мы только вкратце остановимся на физических основах метода, уделив главное внимание последним достижениям в этой области. [29]
Объем исследований, связанных с применением радиоактивных индикаторов, непрерывно возрастает. Книги, вышедшие в последнее время [8-12], посвящены главным образом физическим основам метода и применению радиоактивных индикаторов лишь в отдельных областях химии. [30]