Cтраница 1
Острота пиков будет тем сильнее, чем больше будут отличаться от единицы отношения волновых сопротивлений /; при / - 1 пики сглаживаются вообще. [1]
Учитывая остроту пика канонического распределения, замечаем, что. [2]
![]() |
Дистектическая диаграмма состояния. [3] |
Заслуживает внимания острота пика дистектики. На рис. 11.10, b приведен пример дистектической диаграммы состояния с соединением Mg. [4]
При этом острота пика спектральной плотности внешнего возмущения должна быть значительно меньше остроты пика передаточных функций. [5]
R эквивалентно произведению относительной остроты пика Q на относительное разделение пика S2. Величина Q в дальнейшем определялась как отношение ТXIW, или отношение времени вымывания Ттк ширине пика во времени, где W - ширина пика, измеренная в точках пересечения нулевой линии касательными к пику. Относительное разделение пика АГ / Г ДГ Т2 - TI) или как отношение разности времени вымывания двух пиков ко времени вымывания первого пика. [6]
Коэффициент разделения зависит от остроты пиков ( ширины полосы) и расстояния между максимумами пиков. [7]
В таком же порядке изменяется острота пика на кривой в. Это дает основание полагать, что между характером пика на кривой в. [8]
Кельвина, определяемый из уменьшения ординаты максимума и уменьшения остроты пика, соответствует значениям радиуса 3 3 нм для 77.4 К и 4 2нм для 90 2 К. [9]
Истинное микроскопическое поведение можно получить, изучив, как меняется острота пиков структурного фактора с приближением к критической точке. В этой связи уместно привести результаты Эйзенштейна и Гингрича [21] по аргону. Эти авторы установили, что главный пик структурного фактора аргона различим вблизи критической точки. Например, первый пик в S ( Q) был ясно различим как в жидком, так и в парообразном аргоне при 149 3 К ( Тс 150 66 К) и в газообразном аргоне при 154 0 К. Однако в непосредственной близости от Тс поведение S ( Q) не изучено. [10]
При этом острота пика спектральной плотности внешнего возмущения должна быть значительно меньше остроты пика передаточных функций. [11]
Число разделений рассчитывают по двум последовательным членам данного гомологического ряда, учитывая одновременно остроту пиков и относительное время удерживания. [12]
Как показали результаты опытов, в 0 009 М растворе плавиковой кислоты скорость вымывания элементов и острота пиков возрастает при увеличении концентрации соляной кислоты от 0 17 до 0 23 М ( рис. 70); при этом частичная замена соляной кислоты на хлорид лития не изменила скорости вымывания зон компонентов, что говорит о преобладающем влиянии ионов хлора, а не ионов водорода. [13]
На графике зависимости мольной энергии Гиббса упорядоченной фазы от состава ( рис. 12.2), по остроте пика кривой и крутизне ее ветвей можно судить о труда остях, с которыми связано появление дефектов в структуре. [15]