Cтраница 2
Очень важно определить режимы этих тренировок так, чтобы, с одной стороны, все диоды с ранними отказами были отбракованы и в то же время перегрузки не были столь большими, чтобы приводить к ухудшению параметров надежных приборов или внесению скрытых дефектов в процессе тренировки. [16]
![]() |
Зависимость интенсивности отказов диодов ( тип А от времени тренировки при нагрузке Ри 0 4 Вт. [17] |
Следовательно, среди диодов типа Б ( с большей площадью) более вероятно встретить диоды со скрытыми дефектами ( с ранними отказами), чем среди диодов типа А. [18]
![]() |
Схематическое изображение меза-структуры диода. [19] |
Таким образом, анализируя распределения отказов, найденные при увеличении нагрузки, можно выявить изменение механизма отказов по отклонению от нормального закона распределения ( в том числе и ранних отказов) и определить граничные значения нагрузок, при которых происходит переход от одного механизма отказов к другому. При наличии одной границы можно предположить, что она соответствует переходу от случайных ранних отказов к закономерным отказам, обусловленным процессами, протекающими в приборе при значительных перегрузках и приводящими к выходу приборов из строя. Полученное экспериментально значение величины нагрузки, соответствующее найденной границе, является, очевидно, минимальным значением, при котором в выбранном режиме тренировки происходит отбраковка потенциально ненадежных приборов ( приборов с ранними отказами) и которое не приводит еще к разрушению или заметному ухудшению параметров надежных приборов. Проверка предложенного метода производилась на меза-диодах, которые были выбраны как один из типов приборов, удовлетворяющих сравнительно высоким требованиям по надежности. [20]
Типичный вид динамики коэффициента смертности в теории надежности имеет U-образную форму, соответствующую трем периодам жизни технических устройств ( рис. 7.5): участок убывающей интенсивности отказов - периоду приработки, или ранних отказов; участок постоянной интенсивности - нормальной эксплуатации; участок возрастания интенсивности отказов - периоду износа или старения устройств. [21]
Ранние отказы в полупроводниковых приборах определяются в основном недостатками технологических процессов изготовления и скрытыми дефектами. С целью уменьшения числа ранних отказов приборы обычно подвергаются специальным испытаниям и проходят тренировку при определенных электрических режимах и повышенной температуре. [22]
Первый тип отказов имеет меньшее значение при расчетах надежности. Если определена и исправлена причина раннего отказа и принята правильная политика в области ремонта, этот вид отказов не должен встречаться при дальнейшей работе оборудования. Таким образом, надежность доработанного оборудования характеризуется вероятностью случайного отказа и отказа, связанного с износом. Случайные отказы имеют экспоненциальное распределение с постоянным отказом и частотой замены. Отказы, связанные с износом, имеют нормальное распределение ( или логарифмическое нормальное распределение) с резким увеличением нормы отказов в период износа и стабильной нормой замены после периода стабильной работы. [23]
Наиболее часто в качестве критерия надежности используется интенсивность отказов. Начальный участок кривой соответствует так называемым ранним отказам, причины которых заключаются в основном в быстро проявляющихся скрытых производственных дефектах. По истечении этого срока интенсивность отказов быстро увеличивается. [24]
![]() |
Обобщенная кривая распределения интенсивности отказов. при испытания. электронных устройств и приборов. [25] |
Обобщенная кривая распределения отказов во времени состоит из трех участков. Период, характеризуемый участком /, называется областью ранних отказов или приработки. В этот период эксплуатации или испытаний из строя выходят приборы, обладающие дефектами, которые не могут быть найдены существующими методами контроля качества приборов. Число отказов за этот период быстро уменьшается во времени. [26]
Значит, именно неправильная работа этой системы действительно была причиной раннего отказа гидроцилиндров. [28]
Результаты такой тренировки показаны на рис. 5, из которого видно, что интенсивность отказов резко падает за первые. Таким образом, за это время происходит отбраковка диодов с ранними отказами при уровне нагрузки, установленном рассмотренным выше методом, что подтверждает применимость метода. [29]
Ресурс шатунов ( 340 0 тыс. км) не лимитирует срок службы двигателя ЗМЗ-53 до КР. Вместе с тем при эксплуатации у некоторой части шатунов имеют место более ранние отказы. [30]