Cтраница 1
Условные отказы в полупроводниковых диодах, связанные с медленным изменением их параметров, чаще всего вызваны физическими и химическими процессами на поверхности и в объеме полупроводникового кристалла, сплавов и припоев. [1]
Условные отказы в полупроводниковых диодах, связанные с медленным изменением их параметров, чаще всего вызваны физическими и механическими процессами на поверхности и в объеме полупроводникового кристалла, сплавов и припоев. [2]
Условные отказы связаны с постепенным изменением параметров приборов во времени. Наибольшую сложность представляет определение критериев именно условных отказов. [3]
Условные отказы, связанные с медленным изменением параметров приборов, обусловлены в основном явлениями на поверхности полупроводника. Их причины будут рассмотрены в последующих параграфах. Отметим лишь, что сильный перегрев электронно-дырочного перехода и наличие полей с большой напряженностью могут существенно влиять на скорость протекающих на поверхности процессов. Поэтому и с точки зрения снижения вероятности условных отказов, проявляющихся главным образом в возрастании обратных токов перехода, в снижении коэффициента усиления за счет уменьшения айв возрастании собственных шумов, целесообразно эксплуатационные режимы выбирать ниже максимально допустимых. [4]
Условные отказы в полупроводниковых диодах, связанные с медленным изменением их параметров, чаще всего вызваны физическими и механическими процессами на поверхности и в объеме полупроводникового кристалла, сплавов и припоев. [5]
Условные отказы чаще всего вызваны физическими и химическими процессами на поверхности и в объеме полупроводниковых приборов и на катодах в электронных лампах. [6]
Условные отказы возникли в результате многих факторов случайного характера, которые сложно предугадать на стадии проектирования. [7]
Приведение условных отказов к узлам схемы сокращает количество расчетов при формировании дополнительных сечений из основных, так как отказ узла обусловливает отключение ( потерю работоспособности) всех примыкающих к нему ветвей, в то время как отказ ветви не всегда приводит к отказу узла, с которым она непосредственно связана. [8]
Какими процессами определяются условные отказы. [9]
Если надежность прибора определяется условными отказами, то эксплуатационная надежность прибора может быть значительно выше надежности, полученной при заводских испытаниях. Действительно, условно отказавшие приборы ( в соответствии с установленными критериями) не вызовут отказа схемы. Правильно рассчитанная схема допускает более значительные изменения параметров прибора и при этом сохраняет свою работоспособность. Практика показывает, что эксплуатационная надежность приборов может быть в 100 - 1000 раз большей, чем надежность приборов при указанных испытаниях. [10]
Если надежность прибора определяется условными отказами, то эксплуатационная надежность прибора может быть значительно выше надежности, полученной при заводских испытаниях. Действительно, условно отказавшие приборы ( в соответствии с установленными критериями) ке вызовут отказа схемы. Правильно рассчитанная схема допускает более значительные изменения параметров прибора и при этом сохраняет свою работоспособность. Практика показывает, что эксплуатационная надежность приборов может быть в 100 - 1000 раз больше, чем надежность приборов при указанных испытаниях. [11]
Кроме того, причиной появления условных отказов являются физико-химические процессы в сплавах и припоях, используемых для создания р-п-переходов и невыпрямляющих контактов. Иногда кристаллизация этих сплавов при изготовлении прибора идет неравномерно и образуется не предусмотренная равновесной диаграммой состояния эвтектика с очень низкой температурой плавления, с ускоренными процессами диффузии различных элементов в сплаве, что приводит к старению сплавов и ухудшению качества / 7-п-переходов и невыпрямляющих контактов. [12]
Наибольшую сложность представляет определение критерия условных отказов. [13]
Кроме того, причиной появления условных отказов являются физико-химические процессы в сплавах и припоях, используемых для создания p - n - переходов и невыпрямляющих контактов. Иногда кристаллизация этих сплавов при изготовлении прибора идет неравномерно и образуется не предусмотренная равновесной диаграммой состояния эвтектика с очень низкой температурой плавления, с ускоренными процессами диффузии различных элементов в сплаве, что приводит к старению сплавов и ухудшению качества p - n - переходов и невыпрямляющих контактов. [14]
Кроме того, причиной появления условных отказов являются физико-химические процессы в сплавах и припоях, используемых для создания р-м-переходов и невыпрямляющих контактов. Иногда кристаллизация этих сплавов при изготовлении прибора идет неравномерно и образуется не предусмотренная равновесной диаграммой состояния эвтектика с очень низкой температурой плавления, с ускоренными процессами диффузии различных элементов в сплаве, что приводит к старению сплавов и ухудшению качества p - n - переходов и невыпрямляющих контактов. [15]