Условный отказ
Cтраница 2
Наибольшую сложность представляет определение критериев именно условных отказов, поскольку, как уже было сказано выше, для одного и того же прибора, используемого в различных схемах, критерии условного отказа будут различными. [16]
Если интенсивность полных отказов сравнима или превосходит интенсивность условных отказов, то ужесточение критериев менее эффективно для снижения уровня показателей надежности, чем ужесточение режимов испытания. [17]
При этом необходимо отметить, что определение универсального критерия условного отказа наиболее сложно, так как любое испытание производится по какой-то определенной схеме и не дает возможности переносить результаты испытаний приборов в этой схеме на какие-то другие схемы. [18]
Если надежность прибора при заводских испытаниях определяется в основном условными отказами, то эксплуатационная надежность прибора может быть значительно выше надежности, полученной при испытаниях на долговечность. [19]
Таким образом, влияние условий работы сказывается на интенсивности как катастрофических, так и условных отказов. [20]
При испытании по рассмотренным планам в этом случае возможно назначение сокращенных значений допусков на параметр и фиксация условных отказов, что значительно сократит время испытаний ( см. гл. [21]
Отказы, вызываемые постепенным изменением основных параметров и выходом их значений за установленные нормы, иногда называются условными отказами. Условность отказа определяется выбором критериев годности. Условно отказавший диод или транзистор может быть фактически вполне работоспособным в таких радиоэлектронных схемах, которые не критичны к изменению параметра в рассматриваемых пределах. [22]
Наибольшую сложность представляет определение критериев именно условных отказов, поскольку, как уже было сказано выше, для одного и того же прибора, используемого в различных схемах, критерии условного отказа будут различными. [23]
Метод, изложенный в [15], основывается на расчете календарного срока метрологического ремонта, при котором текущее значение погрешности данного СИ достигнет некоторой величины, связанной с классом его точности, т.е. игнорируется проведение профилактических поверок и считается, что все приборы должны дорабатывать до некоторого условного отказа, после которого их следует направлять в ремонт. При этом не учитывается естественное старение приборов, изменение условий эксплуатации, что существенно влияет на их характеристики. [24]
Всего за 4000 часов вышли из строя 7 тиристоров, причем у двух из них был зафиксирован полный отказ и у пяти - условный. Условный отказ у четырех тиристоров был вызван постепенным выходом за пределы нормы прямого падения напряжения ( увеличение более чем иа 10 %) и у одного тиристора - резким ( в интервале Оч - 100 часов) снижением напряжения класса и увеличением тока утечки. [25]
Кроме того, критерии отказа при испытаниях на долговечность бывают обычно достаточно жесткими. Условный отказ при испытаниях на долговечность никоим образом нельзя приравнивать к отказу при эксплуатации прибора в схеме, особенно если отклонение параметров прибора от нормы невелико. [26]
Условные отказы связаны с постепенным изменением параметров приборов во времени. Наибольшую сложность представляет определение критериев именно условных отказов. [27]
 |
Режим испытаний тиристоров ВКДУ-150 на токовый удар. [28] |
По результатам испытаний строятся соответствующие зависимости изменения параметров от числа токовых ударов. По этим зависимостям с помощью критериев годности определяется момент условного отказа прибора. В процессе испытаний для каждого прибора фиксируется также число ударов до полного отказа. [29]
Можно было видеть, что процессы на поверхности являются главной причиной дрейфа параметров и поэтому основной причиной постепенных условных отказов. В то же время с самого начала существования биполярных транзисторов, и особенно с момента появления транзисторов повышенной мощности, стали наблюдаться их катастрофические выходы из строя, причины которых не удавалось объяснить. [30]
Страницы: 1 2 3