Отклик - система
Cтраница 1
 |
Схема установки для оптической фильтрации. [1] |
Отклик системы h ( х) определяется фильтрующими свойствами системы. Приведенные уравнения, следовательно, описывают общий процесс фильтрации, а Н ( F) - заданный пространственно-частотный фильтр. [2]
Отклик системы, состоящей из пары электроактивных компонентов, но обобщенной в том смысле, что каждый из этих компонентов относится к отдельной подсистеме, также рассмотрен Эшли и Рел-леем [10]; интересующимся подробностями анализа следует обратиться к первоисточнику. Из общей теории довольно легко найти величину фазового угла первой гармоники. В дальнейшем будет показано, какое значение имеет величина фазового угла первой гармоники для пары последовательных реакций ( стр. [3]
Отклик системы на внешнее механическое или электрическое воздействие во многих случаях определяется механизмом реакции, а также строением исходных реагентов и продуктов реакции. Так, напри-мир, в окрестности термодинамического равновесия акустические методы позволяют наблюдать лишь те реакции, которые сопровождаются изменением энтальпии или объема системы или тем и другим вместе. С помощью диэлектрической радиоспектроскопии обнаруживаются только те реакции, которые приводят к изменению поляризации жидкости во внешнем электрическом поле. Релеевская спектроскопия фиксирует реакции, которые изменяют анизотропию поляризуемости жидкой фазы. [4]
Отклик системы характеризуется линейной и нелинейной проницаемо-стями. Эти величины вводятся следующим образом. [5]
Отклик системы характеризуется линейной и нелинейной прони-цаемостями. Эти величины вводятся следующим образом. [6]
 |
Параллельное соединение зон идеального смешения и идеального вытеснения. [7] |
Определим отклик системы на импульсное и ступенчатое возмущения. Из уравнения (3.449) следует, что такой отклик является суммой откликов модели идеального смешения и идеального вытеснения с коэффициентами Vi / v и i 2 / i. [8]
Кривые отклика системы на импульсное ( С-кривая) или ступенчатое ( / - кривая) возмущения обрабатываются статистическими методами. [9]
 |
Кривые отклика системы на ступенчатое и импульсное возмущение входного сигнала. [10] |
Кривую отклика системы на ступенчатое возмущение часто называют f - кривой. [11]
 |
Кривые отклика системы на ступенчатое и импульсное возмущение входного сигнала. [12] |
Кривую отклика системы на ступенчатое возмущение часто называют F-кривой. [13]
Общепринято описывать отклик системы в виде нормированных коистаит скорости, определяемых уравнениями ( 3 3) и ( 3 4) для ЛБА и ДВА соответственно. [14]
Возможность получить полный частотный отклик системы сразу, с помощью одного эксперимента-это как раз то, что нам нужно для ускорения измерения спектра ЯМР. Способ осуществления удара молотком в спектроскопии ЯМР, а также способ расшифровки частотной информации в результирующем отклике пока не ясны, но потенциальные преимущества этого подхода легко оценить. В эксперименте с непрерывной разверткой для получения разрешения в 1 Гц на ширине спектра в 1000 Гц нужно затратить 1000 с. Но если мы научимся анализировать отклик образца на импульс, то, очевидно, сможем завершить такой альтернативный эксперимент как раз за 1 с. При этом на измерение каждой частоты по-прежнему будет расходоваться 1 с, поскольку теперь мы измеряем все частоты одновременно, а не одну за Другой. [15]
Страницы: 1 2 3 4 5