Аналогичное отклонение

Cтраница 1

Аналогичные отклонения наблюдаются и при использовании УКВ. В частности, отчетливую дифракционную картину можно получить при дифракции УКВ-излучения на крае какого-либо экрана, но распределение интенсивности оказывается отличным от рассчитанного для сферического волнового фронта, так как установка с клистроном излучает волну, более похожую на плоскую, чем на сферическую, что следует учитывать при обсуждении этого простого и эффектного опыта. [1]

Аналогичные отклонения наблюдаются в области высоких давлений и у других газов. [2]

Аналогичные отклонения получаются, если использовать также числа Ейзенлора. [3]

Изотермы адсорбции угли. [4]

Аналогичное отклонение наблюдается при скорости и 2 64 - Ю 2 см / сек, но уже в области больших концентраций. Это, очевидно, связано с тем, что в этом случае достигается верхняя г50 граница диффузионной области и кинетическое замедление процесса 20 установления равновесия делается все более заметным. [5]

Необходимо отметить, что аналогичные отклонения от закона Ома были обнаружены Иоффе при гораздо более слабых полях ( порядка 104 V / см) в электронных полупроводниках, где они объясняются соображениями несколько иного рода. [6]

Связь осмотического давления с давлением насыщенного пара. [7]

Эти отклонения, так же как аналогичные отклонения от законов осмотического давления, объясняются электролитической диссоциацией растворенного вещества. [8]

Связь осмотического давления. с давлением насыщенного пара. [9]

Эти отклонения, так же как аналогичные отклонения от законов осмотического давления, объясняются электролитической диссо циацией растворенного вещества. [10]

Во всех остальных группах периодической таблицы наблюдаются аналогичные отклонения в свойствах элементов - главных и побочных подгрупп. [11]

Во всех остальных группах периодической таблицы наблюдаются аналогичные отклонения в свойствах элементов главных и побочных подгрупп. [12]

Во всех остальных группах периодической таблицы наблюдаются аналогичные отклонения в свойствах элементов главных и побочных подгрупп. [13]

Применение метода БЭТ к одной точке изотермы адсорбции дает аналогичные отклонения, зависящие от значений сир. [14]

Отклонение наклона может нормироваться с помощью одного из двух параметров, отличающихся от аналогичных отклонений от перпендикулярности только тем, что определяется не от прямого угла. Это отклонение наклона плоскости относительно плоскости или оси и отклонение наклона оси относительно оси или плоскости. [15]

Страницы: 1 2 3 4