Отношение - интегральная интенсивность
Cтраница 1
Отношение интегральных интенсивностей получали либо путем деления соответствующих показаний гальванометра, либо просто в виде показаний гальванометра, имеряющего линию легирующего элемента, приходящихся на единицу показаний гальванометра, измеряющего линию сравнения. [1]
Отношение интегральных интенсивностей сигналов составляет 3: 28: 2: 2, что согласуется с эмпирической формулой. [2]
При вычислении отношения интегральных интенсивностей потери в крыльях практически исключаются. [4]
Оказалось, что отношение интегральных интенсивностей полос поглощения протонов, содержащихся в насыщенных ( Ннас) и ароматических ( H) структурах, в спектрах асфальтенов значительно, иногда почти вдвое меняется при повышении концентрации от 0 2 до 10 мас. Аналогично, но менее резко меняются отношения Ннас / Иа и при спектро-метрировании смол, а также при варьировании температуры растворов. Знаки изменений неодинаковы для различных образцов и, видилю, зависят, от химической природы ВМС. Концентрационные эффекты усиливаются при понижении температуры, а температурные - при уменьшении концентрации. Удаление мицелл ярных асфальтеновых частиц в виде геля центрифугированием раствора привело к сужению полос в спектре фугата, однако отношения Нцад / Нд, измеренные по спектрам исходного раствора, фугата и разбавленного CDClg асфальтенового геля, различались не более чем на 3 - 4 отн. [5]
 |
Интенсивность в максимуме. [6] |
Как уже указывалось, отношение интегральных интенсивностей / х, определяемых по площадям, ограниченным контурами линий, не зависит от аппаратной функции прибора. Однако при измерении / возникает ряд дополнительных искажающих факторов, влияние которых необходимо учитывать. [7]
Величина Ino / b2o представляет собой отношение интегральных интенсивностей линии ( 110) и ( 220) и характеризует: элементарное искажение кристаллической решетки, складывающееся из динамических и статических искажений. Известно [9], что статические искажения обусловливают упрочнение. В работе [10] установлено, что для чистых металлов и углеродистых сталей динамические искажения остаются постоянными при изменении температуры отпуска и степени деформации. [9]
Если растворитель не содержит протонов, то отношение интегральных интенсивностей узкой и широкой компонент линии ЯМР частично кристаллического полимера не зависит от степени его набухания. В то же время ширина узкой компоненты линии с увеличением набухания уменьшается, а следовательно, разделение сложной линии становится более четким и определение степени кристалличности облегчается. При определении методом ЯМР степени кристалличности полибутена и полиметилпентена он применял в качестве растворителя тетрахлорэтилен. Однако некоторая часть растворителя может все же проникнуть в поверхностный слой кристаллов. Изучая ЯМР в монокристаллах полиэтилена, набухших в тетрахлорэтилене, Фишер и Петерлин 29 показали, что при набухании приобретают подвижность звенья, расположенные на боковых поверхностях кристаллов. [10]
 |
Кривая распределения интенсивности для полиэтилена. 1 - результирующая кривая. 2 - рассеяние на кристаллитах. 3 - рассеяние на аморфных областях. [11] |
Измерив площадь под отдельными кривыми, по отношению интегральных интенсивностей определяют степень кристалличности. [12]
Этот метод ( метод Орнштейна) позволяет определить температуры пламени по результатам измерения отношения интегральных интенсивностей двух спектральных линий, принадлежащих одному и тому же излучающему элементу. [13]
В - ширина кольца, деленная на его радиус, А - длина волны рентгеновских лучей, D - длина ребра кубической кристаллической частицы, 0 / 2 - угол между падающим лучом и отклоненным, Ь - константа, зависящая от размеров аппарата. Ширина кольца определяется отношением интегральной интенсивности диффракционной полосы к максимальной интенсивности. Поскольку на практике трудно оценить эти величины, обычно измеряют расстояние между двумя точками на линии, где интенсивность составляет половину максимальной. Оба эти определения идентичны для некоторых форм диффракционных линий. [14]
D - длина ребра кубической кристаллической частицы, 6 / 2 - угол между падающим лучом и отклоненным, 6 - константа, зависящая от размеров аппарата. Ширина кольца определяется отношением интегральной интенсивности диффракционной полосы к максимальной интенсивности. Поскольку на практике трудно оценить эти величины, обычно измеряют расстояние между двумя точками на линии, где интенсивность составляет половину максимальной. Оба эти определения идентичны для некоторых форм диффракционных линий. [15]
Страницы: 1 2