Отражение - излучение
Cтраница 1
Отражение излучения от дополнительных излучающих плоскостей не учитывается. [1]
Отражение излучения только под определенными углами означает, что это излучение представляет собой волновой процесс и его избирательное отражение есть результат дифракции на атомах кристаллической решетки. [2]
 |
Схема измерения силы света. [3] |
Отражение излучения окружающими предметами, прозрачность воздуха, температура и влажность атмосферы могут вносить значительные погрешности в результаты измерения характеристик излучения. Поэтому в полевых условиях невозможно обеспечить воспроизводимость результатов измерений. [4]
Отражение излучения от реальных материалов носит, как правило, сложный характер. Лишь для очень чистых плоских поверхностей может быть рассмотрен зеркальный характер отражения. При этом, как уже отмечено в главе 3, для пучков света справедливы законы Снеллиуса или Френеля, полученные для одного луча. [5]
Несимметричное отражение излучения от окна компенсирующей камеры можно устранить с помощью оптических схем, в которых рабочая и компенсирующая камеры являются одновременно или пропускающими, или отражающими. [6]
Уменьшение отражения ИК излучения при помощи окисных пленок повышает чувствительность кремниевых фотоэлементов. [7]
При отражении излучения от зеркал наблюдается частичное рассеяние и поглощение излучения, а также частичное прохождение через толщу зеркала. [8]
Таким образом, условие отражения излучения от пространственной гармоники имеет тот же вид, что и условие ее образования. Очевидно, что при этих обстоятельствах каждая из гармоник, взаимодействуя с излучением, выберет из него именно ту составляющую, которая участвовала в образовании этой гармоники при записи, и преобразует ее в соответствующую составляющую волновой функции излучения, рассеянного объектом. Рассматривая интерференцию всех плоских волн, из которых составлено падающее излучение, с плоскими волнами излучения, отраженного объектом, и используя упомянутое свойство пространственной гармоники, образованной при интерференции двух плоских волн, можно показать, что волновые функции излучения, отраженного трехмерной голограммой и объектом, совпадают. [9]
 |
Характеристики инфракрасного влагомера на принципе отражения для листовых материалов. [10] |
Влажность материала оценивают по отражению излучения, соответствующего широкому участку видимого спектра. [11]
 |
Функции у. ( г. при некоторых значениях Л. [12] |
Рассмотрим опять задачу об отражении излучения от полубесконечной среды с изотропным рассеянием. [13]
Некоторые дополнительные потери связаны с отражением излучения на поверхности элемента, эти потери уменьшаются при использовании оптических ( просветляющих) покрытий Было найдено, что в случае Si-элемента присутствие на поверхности окисной пленки, возникающей в процессе изготовления, значительно понижает коэффициент отражений, хотя специально предназначенные противоотражающие покрытия более эффективны. [14]
Наличие таких пленок дает возможность уменьшить отражение излучения от поверхности кремния в пределах А. [15]
Страницы: 1 2 3 4 5