Отражение - рентгеновские лучей
Cтраница 2
Этот случай соответствует отражению Брэгга рентгеновских лучей на кристаллической решетке и описывается соответствующими уравнениями. [16]
То обстоятельство, что отражение рентгеновских лучей обусловлено наличием электронов и зависит от их числа, налагает известные ограничения на применимость методов рентгеноскопии к исследованию структуры кристаллов. В частности, оно не позволяет непосредственно определять положение в решетке протона. Кроме того, оказывается сильно затрудненным выяснение структур соединений, в которые одновременно входят атомы с очень малыми и очень большими атомными номерами. [17]
Рентгеновский способ основан на отражении рентгеновских лучей от поверхности полупроводникового материала. Интенсивность отраженных рентгеновских лучей зависит от плотности упаковки данной плоскости; чем больше эта плотность, тем интенсивнее отражение рентгеновских лучей. Поскольку плоскость ( 111) наиболее плотно упакована атомами, ей соответствует и большая интенсивность отраженных лучей. Кристаллографические плоскости полупроводниковых материалов характеризуются определенными углами отражения падающих на них рентгеновских лучей. Большее же применение для ориентации стержней находит оптический способ. [18]
Описываются результаты исследования зависимости интенсивности отражения рентгеновских лучей от степени совершенства кристаллов фокусирующих монохроматоров. Приводятся аналитические условия оценки оптимальных параметров мозаичности ( размер и угол разориентировки блоков), которым должен удовлетворять кристалл-монохроматор для получения максимальной интенсивности отражения. [19]
Толщина материала, участвующего в отражении рентгеновских лучей, зависит от природы вещества, длины волны излучения, геометрии съемки. Этот вопрос подробно рассмотрен в работе [11 ], где проанализированы существующие способы оценки толщины эффективно рассеивающих слоев и границы их возможного применения. [20]
Для изготовления пластинки, предназначенной для отражения рентгеновских лучей от плоскости ромбоэдра ( 10И), исходными плоскостями служат плоскость ( 1120) ( рис. ЗЭ), получение которой было описано выше, и естественные грани ромбоэдра, которые обычно хорошо развиты на кристаллах кварца. [21]
Это позволяет трактовать явление дифракции как отражение рентгеновских лучей от атомных плоскостей кристалла. Такая интер -, претация дифракции чисто условна и не объясняет природы явления, но она упрощает его истолкование. [22]
 |
Обратная решетка и вайсенберговский снимок. [23] |
Согласно теории обратной решетки 1241, отражение рентгеновских лучей будет происходить во всех случаях, когда узел обратной решетки попадает на сферу отражения. [24]
 |
Зависимость атомного. [25] |
Нами уже рассмотрены взаимные ограничения на возможные отражения рентгеновских лучей кристаллом, накладываемые повторениями по закону решетки, которые привели к ограничениям, выражаемым уравнениями Лауэ. Эти ограничения имеют чисто геометрический характер. [26]
Авторы объяснили возникновение меридиального отражения MI как результат отражения рентгеновских лучей от ряда плоскостей, перпендикулярных оси ориентации, a L - от Слоев. Указанная элементарная ячейка содержит - четыре мономерных звена. [27]
Это и есть закон Брэгга, утверждающий, что отражение рентгеновских лучей происходит при выполнении данных геометрических условий расположения кристалла по отношению к пучку рентгеновских лучей. Если теперь рассмотреть любую рентгенограмму качания, то можно видеть, что нулевая слоевая линия возникает при отражении падающего рентгеновского пучка от системы плоскостей, параллельных оси вращения кристалла. На рис. 22 представлена схема отражения рентгеновского луча от одной из систем таких кристаллических плоскостей в случае, если ось вращения перпендикулярна плоскости рисунка. [28]
Вследствие малости углового диапазона, в пределах которого происходит отражение рентгеновских лучей для совершенного кристалла, эффект Боррмана на прохождение дает очень хорошо коллимированные, а также почти совершенно плоскополяризованные рентгеновские лучи. Это позволяет значительно расширить возможности экспериментов, включающих точные измерения на почти совершенных кристаллах, и дает способ для более полного изучения дифракции, поглощения и процессов рассеяния рентгеновских лучей. [29]
 |
Вращательная ( или колебательная рентгенограмма, показывающая образование линий в цилиндрической камере. [30] |
Страницы: 1 2 3 4