Отражение - рентгеновские лучей
Cтраница 3
Следует отметить, что русский ученый Ю. В. Вульф сформулировал закон отражения рентгеновских лучей ранее Брэгга, которому обычно приписывается открытие этого закона. [31]
Однако двухволновое приближение большей частью адекватно описывает ситуацию при отражении рентгеновских лучей и нейтронов ( в случае Брэгга) от поверхностей больших содершенных кристаллов. [32]
Близость этих величин свидетельствует о том, что при отражении рентгеновских лучей от почти совершенных кристаллов значение интегрального отражения слабо зависит от степени отклонения от идеальной структуры. [33]
Брэгга - Вульфа закон ( условие) гласит, что отражение рентгеновских лучей от параллельных атомных плоскостей кристалла наблюдается в том случае, когда лучи, отраженные ра. [34]
Было изучено изменение расстояний между плоскостями кристаллической решетки и интенсивности отражения рентгеновских лучей от этих плоскостей. Оказалось, что увеличение давления на полимер до 2 2 - 104 кгс / см2 при всех температурах опыта приводит после снятия давления к уменьшению межплоскостных расстояний менее чем на 0 02 А ч ля водородных связей и не более чем на 0 03 А для ван-дер-ваальсовых связей. В процессе последующего вылеживания образцов в течение 30 сутрк межплоскостные расстояния уменьшаются. По мнению авторов, это обусловлено релаксацией внутренних напряжений, возникших под действием давления. [35]
 |
Классификация размеров элементарной ячейки. [36] |
Для определения постоянных решетки в более сложных системах регистрируют картину отражения рентгеновских лучей вращением монокристалла, а для расчетов используют ЭВМ. [37]
Понятно, что на меридиане текстур-рентгенограммы получаются рефлексы, соответствующие отражению рентгеновских лучей от кристаллографических плоскостей, перпендикулярных оси текстуры. Однако для того, чтобы получить на меридиане рентгенограммы рефлекс, соответствующий углу 0, необходимо, чтобы угол между первичным пучком и осью текстуры составлял 90 - в. Сущность этого метода сводится к следующему. Если на поликристаллический образец падает пучок монохроматического рентгеновского излучения, то в образце всегда найдутся кристаллики, которые будут находиться s условиях, при которых выполняется фо рмула Вульфа-Брэгга. Так как эти кристаллики ориентированы ъ образце хаотически, то при отражении от каждой системы параллельных плоскостей внутри таких кристалликов, для которой ( выполняется формула (2.8), возникнет конус дифрагированных рентгеновских лучей. Ось этого конуса совпадает с направлением первичного пучка рентгеновских лучей. [38]
В дальнейшем Сакисака и Сумото [43] специально занимались изучением зависимости интенсивности отражения рентгеновских лучей от совершенства кристалла в его поверхностном слое. Опыты велись параллельно на кристаллах каменной соли и кальцита, являющегося, как известно, достаточно совершенным кристаллом. [39]
Часто забывают, что основное представление о рентгенограммах как о результате отражения рентгеновских лучей от атомных плоскостей в кристаллической решетке было выдвинуто замечательным, к сожалению рано погибшим, русским физиком-кристаллографом Юрием Викторовичем Вульфом, причем раньше и, конечно, независимо от Брэгга. [40]
 |
Дифракция на атомном.| К выводу уравнения Брегга-Вульфа. [41] |
Трехмерную решетку мы можем представить состоящей из параллельных плоскостей, от которых происходит отражение рентгеновских лучей. [42]
Когда плоскость торцевой поверхности монокристалла совпадает с определенной кристаллографической плоскостью, счетчик зарегистрирует отражение рентгеновских лучей максимальной интенсивности. [43]
Это соотношение известно под названием уравнения Брэгга; о: ю дает условие отражения рентгеновских лучей от серии атомных плоскостей. Если известно расстояние между атомными плоскостями, то можно подсчитать длину волны рентгеновских лучей, и обратно, используя рентгеновские лучи известной длины волны, можно определить расстояния между атомными плоскостями. [44]
 |
Дифрактограммы пленок метилцеллюлоз. [45] |
Страницы: 1 2 3 4