Резонансное отражение

Cтраница 3

Численный анализ позволяет сделать вывод о предпочтительности густых решеток для использования в качестве поляризаторов сканирующих антенн. Действительно, густые решетки, не обладающие оптимальными характеристиками при нормальном падении, обеспечивают близкую к круговой поляризацию ( г 0 7) в широком секторе сканирования. В связи с тем что с увеличением угла падения ф Ь0 возрастает, a i Ba I несильно падает, коэффициент эллиптичности увеличивается. При дальнейшем возрастании ф наступает полное резонансное отражение / / - компоненты, и г стремительно падает до нуля. [31]

На рис. 124 приведены примеры спектра остаточных лучей для AlSb и GaP. Положение полосы остаточных лучей меняется для различных полупроводников в довольно широких пределах 20 - 80 мкм. Здесь следует отметить, что максимум в спектре одно-фононного отражения не соответствует энергии оптического поперечного фонона, а несколько сдвинут в сторону высоких энергий. Для более точного определения энергии фононов, отвечающих за это резонансное отражение, нужно пересчитывать спектр отражения в спектр поглощения. У линии поглощения будет более острый максимум, чем у линии отражения, и положение максимума отражения практически будет соответствовать энергии ТО-фонона. [32]

Рентгеновский интерферометр Бонзе - Харта.| Схема многослойных покрытий. в ], к, - диэлектрические проницаемости 1-го и 2-го материалов. [33]

В МСП возможны два механизма отражения. МСП определяется скачком действит. Второй - отражение вследствие эффекта Бормана ( см. Аномального пропускания аффект), в этом случае вещества подбираются так, чтобы выполнялось условие Ime Ime, и коэф. Такая структура состоит из очень тонких слое сильно поглощающего вещества и дополняющих их до периода d слоев вещества со слабым поглощением. При резонансном отражении в структуре образуется стон-1 чая волна, узлы к-рой приходятся на слои вещества с большим поглощением, и поэтому затухание в них мало. Реально в отражения участвуют в той или иной мере оба механизма, поэтому необходимо подбирать оптим. [34]

Линии равных значений R ( x, L const для двойных изломов с Л 1 0 и ос 90. [35]

Из двойных изломов, являющихся распространенными элементами одно-модовых волноводных трактов, наиболее широко используются те, которые поворачивают ось волновода на прямой угол, причем у традиционных конструкций ширина волновода связи совпадает с шириной основного волновода. При их расчете существенным было предположение, что электродинамическое взаимодействие двух элементарных изломов происходит лишь по низшей волне, а отсюда довольно просто устанавливались соотношения типа (2.15), позволяющие определить длину волновода связи, обеспечивающую полное согласование тракта на заданной частоте. Вследствие электродинамического взаимодействия двух простых изломов на конечном расстоянии функция R ( и, L) const содержит линии интерференционных максимумов и минимумов. Ее анализ показывает, что максимальное отражение возникает при выполнении необходимых фазовых соотношений, а его уровень определяется величиной коэффициента отражения для элементарных изломов. Чем меньше угол а, тем более сильными нерегулярностями тракта выступают отдельные изломы и повышается их собственный коэффициент отражения ( см. § 3), а отсюда интегрально возрастает и уровень отраженного сигнала от всего устройства в целом. Однако в отличие от интерференционных максимумов их природа иная. Как и в случае перископических соединений с h 1 0, их появление связано с наличием у элементарных изломов свойства резонансного отражения Я10 - волны и существенным влиянием высших волн на процесс взаимодействия двух изломов вблизи и 1 0, критического для Яю-волны. Количество линий R ( и, L) 0 и их положение на координатной плоскости и, L зависят от длины волновода связи и от того, насколько быстро изменяется фазочастотная характеристика коэффициента отражения для одиночного излома при вариации параметров и и а. [36]

Страницы: 1 2 3