Интегральное отражение

Cтраница 1

К вычислению интегральных интенсивы остей в случае клина. [1]

Интегральное отражение, описывающее распределение интенсивности на снимках со сканированием, уже в функции от угловой переменной у или угла rj, одинаково как при падении плоской, так и сферической волн. [2]

Интегральное отражение в общем случае может быть протабу-лировано с помощью формул (8.119) и (8.125) и таблиц эллиптических интегралов. Однако так как в настоящее время наибольший интерес представляют случаи отражения при ( относительно) малых Хог и Xhi а следовательно, s x g 1, k zz 1, причем q I 1, то функция Р ( Sj q) может быть упрощена. [3]

Интегральное отражение по Брэггу в аналогичных случаях более или менее значительно превышает отражение по Лауэ, иногда на несколько порядков, что является весьма существенным при создании кристаллических монохроматоров. [4]

Величина интегрального отражения в случае прозрачного кристалла не должна отличаться от значения, получаемого в теории при падающей плоской волне. [5]

Сопоставляя величины интегрального отражения по Лауэ и по Брэггу, можно сделать следующие замечания. [6]

Рентгенооптическая схема двухкри-стального спектрометра в параллельной установке для измерения дифракционных параметров монокристаллов ( S - источник. Ct - кристалл-коллиматор. Сг - исследуемый кристалл. Д - детектор. стрелка указывает вращение исследуемого кристалла при записи кри вой качания. [7]

Все они содержат узкие интервалы повышенного интегрального отражения, что необходимо учитывать при обработке регистрируемых спектров. [8]

Максимумы кривых отражения по формулам Дарвина ( 1 и Эвальда ( 2. [9]

Сравнивая это значение Rt с интегральным отражением в случае Лауэ согласно (3.82), замечаем, что в случае Брэгга инте граль-ное отражение в два раза больше. Заметим, что (8.53) было получено Дарвином. [10]

Расчетные дифракционные характеристики кристаллов бифтала-тов различных металлов для д. - 14 - 2 5 им. [11]

На рис. 8.4, а-в нанесены соответственно интегральное отражение, Rt в кинематическом к) и динамическом d) приближениях ( рис. 8.4, а), коэффициент отражения в максимуме Rm ( рис. 8.4, б) и полуширина w динамического дифракционного профиля ( рис. 8.4, б) употребительных кристаллов бифталатов аммония ( /) и различных металлов ( 2 - натрия; 3 - калия; 4 - рубидия; 5 - таллия), рассчитанные в спектральном диапазоне 1 0 - 2 5 нм. [12]

Механическая обработка поверхности расширяет дифракционный профиль, снижает интегральное отражение за счет образования на поверхности поглощающего слоя. Такие же изменения вызывают постепенное разрушение поверхностного слоя под действием атмосферной влаги [46], что частично объясняет разброс данных, полученных разными авторами или последовательно измеренных на одном образце. [13]

Рассматривая полученные соотношения для асимметричного отражения, замечаем, что интегральное отражение Rt так же, как и при симметричном отражении, имеет различную величину для отражений с противоположными знаками индексов при рассеянии в кристаллах без центра симметрии. [14]

В целом с увеличением дифрагируемой длины волны в рассматриваемом диапазоне динамический и кинематический пределы интегрального отражения сближаются, и оно изменяется незначительно. [15]

Страницы: 1 2 3