Кривое отражение

Cтраница 4

Метамерными цветами называются цвета, имеющие разные спектральные составы, но характеризующиеся одинаковыми координатами цвета. В зависимости от выбранных красителей возможны разные варианты метамерного воспроизведения цвета. В качестве примера на рис. 51 приведены кривые отражения двух образцов, цвета которых являются мета-мерными как при освещении источником света А, так и при освещении источником С. [46]

Впервые идея трех - и многокристальных спектрометров была выдвинута Дю-Мондом [119], который предложил наглядный графический метод анализа свойств подобных приборов. Таким образом, была устранена паразитная симметрия кривых отражения, которые получаются при использовании классической схемы ( п, - п) двухкристального спектрометра. [47]

Кривые отражения от поглощающего кристалла, отвечающие различным значениям параметров g и х. [48]

Заметим, что формы максимума при хл О и Kh C 0 для данного значения Kh % hi / Xhr являются зеркально симметричными относительно оси ординат. Как можно видеть из приведенных кривых, возрастание х приводит к усилению асимметрии максимума, в то время как увеличение g - к уменьшению площади максимума или интегрального отражения. При значениях х 0 1 ч - 0 2 и - 0 3 один ( левый) край асимметричного максимума сохраняется неизменным по отношению к дарвиновской кривой. Эта особенность кривых отражения в случае поглощающего кристалла может быть объяснена на основе анализа волнового поля в кристалле. Ранее было показано, что относительное расположение плоскостей узлов и пучностей волнового поля, с одной стороны, и атомных плоскостей, с другой, различно в областях 1иШ, плавно меняется от одного до другого края в области полного отражения. Соответственно с перемещением узловых плоскостей при возрастании у эффект поглощения усиливается и остальная часть максимума обнаруживает характерный спад коэффициентов отражения. [49]

Это уравнение является основным для расчета спектрофотометрических кривых коэффициентов отражения для прозрачных образцов. Следует отметить, что R является функцией отношения р / Р и, следовательно, только это отношение ( а не абсолютные значения и р) может быть определено из измерений одного отраженного света. Однако для расчета кривых отражения, являющегося нашей главной целью, необходимо знать только отношение величин ( J - и р, а сами эти величины могут быть найдены с помощью некоторых предположений, о которых будет сказано ниже. [50]

Минимум отражения желтого пигмента находится в коротковолновой части спектра. Его присутствие обнаруживается в ходе кривой в диапазоне длин волн 400 и 480 нм. Красный пигмент обнаруживается на кривой смеси в средней области спектра - между 500 и 580 нм, синий - в оставшейся, длинноволновой части. На рис. 1.44 и 1.45 изображены кривые отражения эталонных окрашиваний пигментами, входящими в состав желто-коричневого образца. [51]

Хотя изложенное рассмотрение влияния поляризации на интерференционную картину является естественным и, возможно, элементарным проявлением поперечной природы электромагнитных волн рентгеновского диапазона, наглядный характер эффекта, а также возможность внесения поправки в наблюдаемые значения Л делает этот эффект существенным. Принципиальный интерес представляет измерение формы максимумов интерференционной картины. Действительно, форма максимумов находится в закономерной связи с формой ветвей дисперсионной гиперболы и согласно (6.40) должна быть гиперболической. Метод экспериментального изучения формы дисперсионной поверхности с помощью описываемых здесь секционных снимков является более прямым, чем использование кривых отражения. [52]

Матричный метод и метод рекуррентных соотношении относятся, строго говоря, лишь к структурам с кусочно-постоянной зависимостью 8 ( г), в то время как метод медленных амплитуд справедлив для любой периодической ( слабомодулированной) функции 8 ( г) и в этом смысле является более общим. Кроме того, метод медленных амплитуд может непосредственно применяться для описания более сложных оптических эффектов в МИС, а также для исследования квантовомеханических явлений в периодических потенциалах. Так, в работах [11, 19] с его помощью рассмотрены поверхностные электромагнитные волны нового типа ( в том числе и рентгеновские) в многослойных структурах -, а в работе [9] - поверхностные ( таммовские) состояния электронов в сверхрешетках. Сравним, наконец, результаты, полученные с помощью аналитических формул (3.28) и точного численного расчета по методу рекуррентных соотношений. На рис. 3.5 приведены кривые отражения R ( ф), полученные этими методами для МИС, состоящей из слоев ванадия и углерода, при почти нормальном падении MP-излучения с длиной волны к 6 02 нм. Из рисунка видно, что аналитический расчет дает те же результаты, что и численный. Тем не менее, даже и в этих случаях аналитический подход может применяться, по крайней мере для предварительного рассмотрения. [53]

Реакционный аппарат для эпи-таксиального выращивания теллурида кадмия. [54]

На рис. 1 изображена схема установки для эпитаксиального выращивания теллурида кадмия. Источником вещества служили как предварительно синтезированный CdTe, так и отдельные элементы Cd и Те, помещенные в кварцевые лодочки длиной 6 - 8 см. В качестве газа-носителя использовался очищенный от кислорода и паров воды водород. Эпитаксиальное наращивание теллурида кадмия проводили на естественные сколы слюды ( мусковит) и флюорита ( CaFa; a5 45 А) на ( 1120) поверхность сапфира ( аАЬОз; а4 76 А; С13 0 А) и А поверхности CdTe и GaAs с целью исследования ориентированного нарастания CdTe на полупроводящих и электрически нейтральных подложках с различной кристаллографической ориентацией. Кристаллическое совершенство выращенных на этих подложках пленок CdTe изучали визуально с помощью микроскопа МИМ-8, по рентгенограммам, снятым по методу Лауэ, и кривым отражениям, полученным на двухкристальном спектрометре. [55]

Если исследуется отражение, то удобнее всего разложить векторы на составляющую, лежащую вдоль плоскости падения, и другую, к ней перпендикулярную. Поведение естественного луча эквивалентно поведению двух таких волн, если считать, что разность фаз между ними меняется по закону случая. Поэтому, когда говорят о поляризации света, употребляют выражения: одна из составляющих не прошла, или прошла в такой-то доле. Если при отражении света или при преломлении одна из составляющих проходит в большей степени, чем другая, а именно это и имеет место при отражении и преломлении, как показал рисунок кривых отражения, то происходит частичная поляризация света. [56]

Если исследуется отражение, то удобнее всего разложить векторы на составляющую, лежащую вдоль плоскости падения, и другую, к ней перпендикулярную. Поведение естественного луча эквивалентно поведению двух таких волн, если считать, что разность фаз между ними меняется по закону случая. Поэтому, когда говорят о поляризации света, употребляют выражения: одна из составляющих не прошла, или прошла в такой-то доле. Если при отражении света илц при преломлении одна из составляющих проходит в большей степени, чем другая, а именно это и имеет место при отражении и преломлении, как показал рисунок кривых отражения, то происходит частичная поляризация света. [57]

Страницы: 1 2 3 4