Cтраница 2
Было показано, что для соединений, содержащих в качестве восстанавливаемой формы катионы, миграционный ток в отсутствие фона почти равен диффузионному. Незлачительные добавки вещества фона существенно влияют на величину миграционного тока. Установлено, что миграционный ток практически отсутствует в растворах, где концентрация фона раз в 50 больше концентрации исследуемого вещества. [16]
Несмотря на очевидные достоинства масс-спектрометрии при изучении образования отрицательных ионов ( возможность анализа по массовым числам ионов, отсутствие фона потенциального рассеяния), во многих случаях имеют явное преимущество другие методы. Например, абсолютные значения сечений захвата электронов молекулами с образованием отрицательных ионов были получены для большого числа молекул с использованием трубки полной ионизации ( Бучельникова [60], Шульц [27, 28, 40]), в то же время при масс-спектрометрическом исследовании значения сечений образования ионов могут быть получены только методом сравнения на выходе масс-спектрометра ионных токов исследуемого вещества и вещества-репера с известным сечением образования ионов. [17]
Общие преимущества методов, связанных с подсчетом следов, состоят в следующем: простота и дешевизна; высокая чувствительность-регистрируется каждый отдельный акт распада; отсутствие фона, ибо, как правило, побочные явления всегда удается отделить от основных. Всему этому следует противопоставить утомительность обследования больших площадей на пластинке. [18]
Ильковичем было установлено, что при восстановлении катионов предельный ток в отсутствие фона выше, чем в его присутствии; при восстановлении анионов предельный ток в отсутствие фона ниже, чем в его присутствии. [19]
При подстановке значения сэ 0 в уравнения (9.13) и (9.14) получается максимальное значение плотности тока на электроде, которое при избытке фона равно предельному току диффузии, а при отсутствии фона больше предельного тока диффузии в 1 / ( 1 - пк) раз. [20]
При подстановке значения сэ 0 в уравнения (9.13) и (9.14) получается максимальное значение плотности тока на электроде, которое при избытке фона равно предельному току диффузии, а при отсутствии фона больше предельного тока диффузии р 1 / ( 1 - мк) раз. [21]
Другими словами, в задаче ( 6), ( 16), ( 17) осуществляется фективная локализация тепла на глубине L ж, в точности равной глубине локализации при отсутствии температурного фона. [22]
Зависимости ( 10 - 17), ( 10 - 20) - ( 10 - 22) позволяют рассчитать дальность действия, требуемую площадь входного зрачка и пороговую энергетическую освещенность в условиях отсутствия фона или когда влиянием его можно пренебречь. [23]
![]() |
Зависимость концентрационной поляризации электрода от плотности тока. [24] |
При подстановке значения сэ О в уравнения ( 137) и ( 138) получается максимальное значение плотности тока на электроде, которое при избытке фона равно предельной плотности тока диффузии, а при отсутствии фона - больше предельной плотности тока диффузии в 1 / ( 1 - п) раз. [25]
Поэтому отсутствие линии еще не означает отсутствия элемента в пробе. Отсутствие фона на фотографической пластинке означает, что еще не достигнут порог чувствительности. [26]
При отсутствии фона с гнезда 1116 нужно произвести аналогичную проверку с гнезд Ш4, 1115 и 1111 нажав соответствующие кнопки переключателя рода работ. При отсутствии фона с любого входа необходимо снять поддон и еще раз проверить исправность предохранителей. Если предохранители исправны, то шасси блока УМ вынимается из корпуса и проверяются режимы транзисторов блоков питания и УНЧ. Одновременно с проверкой режимов целесообразно проверить напряжения па электролитических конденсаторах. [27]
При этом стрелка прибора должна стать на отметку О верхней шкалы. Работоспособность прибора проверяют при отсутствии фона гамма-излучения. [28]
![]() |
Изотермы экстракции. [29] |
Для расчета процессов реэкстракции необходимо изучать изотермы экстракции основных примесей и никеля. Измерение изотерм экстракции производится в отсутствии фона, когда хлор-ион вносится только самим экстрагируемым металлом. [30]