Cтраница 2
Из инструментальных ошибок при измерении углов особое влияние имеют ошибки, вызванные наклоном основной оси вращения и смещением лимба при вращении алидады. [16]
Схема разомкнутого узла последовательного типа. [17] |
Расчет инструментальной ошибки сложного прибора целесообразно вести, разбив прибор на отдельные узлы. [18]
Приборы имеют инструментальные ошибки, которые можно обнаружить следующим способом. Рассмотрим два сельсина, включенные по схеме на фиг. [19]
Впрочем, столь значительные инструментальные ошибки, по-видимому, встречаются редко. [20]
Для уменьшения инструментальной ошибки повторяют фотометрирование в обратной последовательности, начиная с высшей концентрации. Вычисляют среднее арифметическое из полученных показаний прибора. Вводят поправку на фон с обеих сторон аналитической линии и поправку на содержание примесей в контрольном растворе. [21]
Основные виды инструментальных ошибок: ошибки округления, возникающие из-за ограниченности разрядной сетки машин ВС; ошибки, вызываемые отказами и сбоями ( самоустраняющимися отказами) в различных элементах ВС, принимающих участие в вычислениях; ошибки, обусловленные сопряжением разнотипных ЭВМ системы, отличающихся разрядностью и формой представления чисел. [22]
Для определения инструментальных ошибок их значениями следует задаваться при проектировании в каждом случае отдельно, учитывая известный опыт работы с аналогичными системами. [23]
При расчете инструментальной ошибки ( AZ) H необходимо учесть ( Д /) - инструментальную погрешность вычислительного устройства ВУ ( она находится согласно методике, изложенной выше); АЛ /, Длг, Дл. Jlz, / 7z - Ошибки линий Лу - э, Лгг на точности воспроизведения Z не сказываются. [24]
Однако из-за инструментальной ошибки таким путем нельзя беспредельно уменьшать пороговую концентрацию. [25]
Результаты измерений окрашенных растворов. [26] |
Такое разделение инструментальной ошибки на две составляющих имеет важное практическое значение, так как ствоспр может быть уменьшена путем увеличения числа параллельных определений, тогда как стт не зависит от числа параллельных определений, выполненных за короткий промежуток времени. Ошибку ат надо рассматривать как постоянную величину по отношению к множеству измерений, выполненных за короткий промежуток времени; она может быть элиминирована только при помощи контрольных эталонов. [27]
Возможные блок-схемы вычислительных устройств, моделирующих функцию / ( Х1 ( Хг, , Х, Z. [28] |
Аналогичным путем рассчитываются инструментальные ошибки и в более сложных случаях при наличии трех и большего числа цепей обратной связи. [29]
Благодаря этому уменьшается инструментальная ошибка, и суммарная точность дискретной системы может быть выше непрерывной. Кроме того, дискретные сигналы в меньшей степени подвержены искажениям в процессе передачи, они легче вводятся в цифровые вычислительные машины. [30]