Перегрев - кристалл - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 3
Самый верный способ заставить жену слушать вас внимательно - разговаривать во сне. Законы Мерфи (еще...)

Перегрев - кристалл

Cтраница 3


Мощность, потребляемая МДП-транзисторами, в несколько раз меньше, чем мощность биполярных транзисторов, что позволяет размес-гать в одном кристалле больше элементов без опасности перегрева кристалла.  [31]

Неправильные режимы эксплуатации и применения могут привести к появлению дефектов в микросхемах, проявляющихся в нарушении герметичности корпуса, травлении материала покрытия корпусов и их маркировки, перегреву кристалла и выводов, нарушению внутренних соединений, что может приводить к постепенным и полным отказам микросхем.  [32]

Неправильные режимы эксплуатации и применения могут привести к появлению дефектов в микросхемах, проявляющихся в нарушении герметичности корпуса, травлении материала покрытия корпусов и их маркировки, перегреву кристалла и выводов, нарушению внутренних соединений, что может приводить к постепенным и полным отказам микросхем.  [33]

Неправильные режимы эксплуатации и применения могут привести к появлению дефектов в микросхемах, проявляющихся в нарушении герметичности корпуса, травлении материала покрытия корпусов и их маркировки, перегреву кристалла и выводов, нарушению внутренних соединений, что может приводить ч постепенным и полным отказам микросхем.  [34]

Неправильные режимы эксплуатации и применения могут привести к появлению дефектов в микросхемах, проявляющихся в нарушении герметичности корпуса, травлении материала покрытия корпусов и их маркировки, перегреву кристалла и выводов, нарушению внутренних соединений, что может приводить к постепенным и полным отказам микросхем.  [35]

Неправильные режимы эксплуатации и применения могут привести к появлению дефектов в микросхемах, проявляющихся в нарушении герметичности корпуса, травлении материала покрытия корпусов и их маркировки, перегреву кристалла и выводов, нарушению внутренних соединений, что может приводить к постепенным и полным отказам микросхем.  [36]

Неправильные режимы эксплуатации и применения могут привести к появлению дефектов в микросхемах, проявляющихся в нарушении герметичности корпуса, травлении материала по крытия корпусов и их маркировки, перегреву кристалла и выводов, нарушению внутренних соединений, что может приводить к постепенным и полным отказам микросхем.  [37]

38 Изотермическое плавление кристаллов из вытянутых цепей полиэтилена при различных степенях перегрева [ 8б ]. [38]

Однако Иллерс [ ЮЗ ] показал, что травление азотной кислотой, приводящее к удалению остающихся складок цепей, проходных молекул-и выступающих петель цепей, все же влияет на перегрев кристаллов из вытянутых цепей.  [39]

40 Устройство лачера на твердом теле. [40]

Так как лампы накачки имеют широкий частотный спектр, то для получения достаточной для возбуждения энергии и в узкой полосе поглощения кристалла приходится увеличивать мощность возбуждения, что приводит к перегреву кристалла.  [41]

Максимально допустимый ток анода / прзап, при протекании которого еще возможно выключение тиристора по цепи управления, ограничен явлением пробоя перехода / з ( см. § 2.8) или перегревом кристалла в процессе запирания прибора. Последний фактор является определяющим, когда тиристор работает при повышенных значениях напряжения питания и температуры окружающей среды.  [42]

Микросхемы представляют собой мощные стабилизаторы напряжения с фиксированными выходными напряжениями положительной полярности 20, 24 и 27 В и токами нагрузки Т и 1 5 А Имеют защиту от перегрузок по току и от перегрева кристалла Содержат 39 интегральных элементов.  [43]

Микросхемы представляют собой мощные стабилизаторы напряжения с фиксированными выходными напряжениями положительной полярности 20, 24 и 27 В и токами нагрузки 1 и 1 5 А Имеют защиту от перегрузок по току и от перегрева кристалла Содержат 39 интегральных элементов.  [44]

Особенности ИС: характеристики обратной связи позволяют защитить от перегрузок внешние компоненты; защита при работе в условиях короткого замыкамия; автоматическое выключение при снижении сетевого напряжения ниже допустимого; система мягкого старта при запуске; защита от перегрева кристалла; внутрисхемная защита от ложного запуска.  [45]



Страницы:      1    2    3    4