Ионный пик
Cтраница 1
Ионный пик, соответствующий массе 30, в этом случае очень низок, ибо вероятность существования большого числа частиц ( 5) вгазе крайне мала. Отношение высот пиков 29 и 28 равно 1: 133, а не 1: 265, как это могло бы показаться на первый взгляд. Это делается понятным из рассмотрения следующей аналогичной проблемы. Предположим, что в ящике содержится 999 белых шаров и один черный шар, которые вынимаются из ящика попарно. [1]
Если при работе с омегатроном на ленте самописца нет ионных пиков или величина фонового тока превышает 0 1 % суммы пиков ионных токов, причину отсутствия пиков следует искать в плохой юстировке магнита относительно омегатронной лампы, или это может быть вызвано загрязнением омегатрона. В последнем случае следует провести его повторное обезгаживание или, если оно не помогает, сменить омегатронную лампу. [2]
Более подробного рассмотрения заслуживают ошибки, связанные с интерференцией ионных пиков соседних масс изотопов. Такие погрешности трудно учесть ввиду того, что частичное совмещение пиков является функцией многих параметров: напуска газа, фокусировки, процентной распространенности изотопов. Ионов [92] считает, что даже при двойной фокусировке всегда обнаруживается эффект совмещения изотопных пиков вследствие рассеяния ионов на молекулах остаточного газа в камере масс-спектрометра и его величина на расстоянии, соответствующем одной массовой единице, составляет 10 - - 3 % от интегральной величины наиболее интенсивного пика. [3]
Выходная приемная щель масс-спектрометра сделана больше входной для того, чтобы интенсивность ионного пика была пропорциональна эффективности образования ионов. В противном случае эффективность образования ионов будет пропорциональна не интенсивности ионного тока, а площади кривой: ионный ток - магнитное поле в пределах данной линии. Разрешающая сила вполне достаточна, чтобы отделить массовую линию 32 от интенсивной линии 35 иона хлора. [4]
 |
Блок-схема масс-спектрометра. [5] |
Разрешающая способность R определяется отношением RM / AM, где М - масса измеряемого иона; AM - ширина ионного пика ( в единицах массы) на обусловленной высоте пика. [6]
Для получения истинного отношения концентрации элементов ( или изотопов элементов) в исследуемом газообразном образце необходимо прокорректировать получаемое непосредственно на масс-спектрометре отношение ионных пиков с учетом каждого источника ошибок. Пока это не будет проделано, достоверные результаты анализа получить невозможно. [7]
Если на напряжение переменного тока, при котором наблюдается данное явление, наложить постоянное напряжение, превышающее амплитуду переменного, то ионы жидкости будут прижаты к одной из стенок зазора, и ионный пик на кривой тока исчезнет; одновременно можно зафиксировать и снижение угла потерь по сравнению с тем значением, которое он имел до наложения постоянного напряжения ( рис. 64); значительное увеличение постоянной составляющей напряжения может уже вызвать увеличение tg б за счет роста сквозной проводимости. [9]
В общем случае, при изотопном анализе многоатомных молекул расшифровке и обработке масс-спектра должен предшествовать теоретический анализ возможного масс-спектра выбранной молекулы с учетом всех возможных изотопов составляющей ее молекулы с последующим выбором наиболее подходящих ионных пиков для проведения расчета изотопного состава интересующего элемента. [10]
Одновременно с измерением изотопного состава пара воды над адсорбентом по суммарной интенсивности пиков / н 0, / HDO и / D 0 масс-спектра воды рассчитывают величину, пропорциональную давлению пара над адсорбентом. Интенсивности ионных пиков масс-спектра воды с массовыми числами 19 и 20, пропорциональные концентрациям молекул HDO и D2O, измеряют масс-спектрометром. [11]
В большинстве случаев следует указывать оба иона, поскольку возможны и все другие реакции распада. Поэтому в масс-спектре соединения обычно появляется большое число ионных пиков, но их относительная частота довольно различна. [12]
Если в итоге поставленного эксперимента желательно определить не только форму спектра рассеянного излучения ( для измерения Тв или TI), но и абсолютную интенсивность ( для измерения электронной плотности), то необходима градуировка всей измерительной аппаратуры. Пусть, например, опыт проводится при а 1 и требуется измерить абсолютную интенсивность ионного пика. Обозначим сигнал в выходном канале регистрирующего устройства, когда система откачана до высокого вакуума и через нее пропускается лазерный пучок, через Р; это сигнал, который определяется паразитным рассеянием лазерного луча на узлах установки и внутренними шумами умножителя. Сигнал, вызванный плазменным излучением, в отсутствие лазерного пучка, обозначим через Ра. Так как длительность плазменного свечения, как правило, превышает длительность лазерного импульса, то электро оптический затвор, помещенный перед входной щелью спектрального прибора, открывается только на время работы ОКГ. Затем система заполняется азотом ( или С02) прж атмосферном давлении. Теперь наблюдаемый сигнал Р3 обусловлен рэлеевским рассеянием на молекулах азота или углекислого газа ж, разумеется, паразитным рассеянием на узлах установки. Наконец, система снова откачивается, в ней в прежних условиях создается плазма и одновременно с открытием электро оптического затвора срабатывает ОКГ. Сигнал JP4 регистрируемый в этих условиях, определяется собственным излучением плазмы, паразитным рассеянием на узлах установки и рассеянием лазерного луча плазмой. [13]
 |
Спектры рассеянного излучения для трех значений параметра Солпатера. [14] |
Итак, эксперименты, проводимые в условиях, отвечающих первому предельному случаю, позволяют из полуширины спектра рассеянного излучения определить электронную температуру плазмы. Если опыт выполняется при а 1, то полуширина ионного нина рассеяния дает ионную температуру плазмы, а по абсолютной интенсивности ионного пика можно определить концентрацию электронов. Перекрестным контролем может служить определение пе из положения электронных сателлитов. [15]
Страницы: 1 2