Ионный пик

Cтраница 2

Расчет по пикам молекулярных ионов усложняется даже для наиболее простых молекул. Например, определение изотопного состава углерода ( два стабильных изотопа 12С и 13С) при использовании для анализа оксида углерода осложняется тем, что второй элемент молекулы - кислород - сам имеет три стабильных изотопа ( 160, 170, 180), и на ионный пик / 29, обусловленный ионами 13С160, налагается пик, обусловленный ионами 12С170, и, следовательно, концентрацию 17О в пробе необходимо знать. [16]

Основные ионы, образующиеся в парах воды в масс-спектрометре. [17]

Пары воды являются одной из простейших систем, к которой применимы все методы исследования газов, описанные в гл. Наиболее важные ионы, образующиеся в масс-спектрометре, и реакции, постулированные для объяснения их возникновения, даны в табл. 8.1. При более высоких потенциалах в ионном источнике могут идти, конечно, и другие реакции по сравнению с реакциями, приведенными в табл. 8.1 [8, 9], но они для простоты опускаются. Относительные интенсивности ионных пиков получены разными исследователями при ионизирующем напряжении 50 в [10] и 100 в [11] соответственно. Поскольку было найдено, что интенсивность пика иона Н3О пропорциональна квадрату давления паров воды в ионном источнике масс-спектрометра, то, следовательно, данный ион образуется в результате вторичных бимолекулярных ( ион-молекулярных) реакций, показанных в таблице. [18]

Однако нагрев ионного источника вызывает значительные побочные эффекты. К ним относятся изменение геометрии ионного источника от нагрева и изменение контактных потенциалов электродов. Поэтому кривые изменения ионных пиков от температуры, в частности с прогревом ионного источника, могут быть самыми различными в зависимости от конструктивных особенностей ионного источника. [19]

Масс-спектр Hg. втю % - ширина пика на полувысоте, отпю % - на уровне 10 % от максимальной интенсивности.| Схема статического масс-спектрометра с однородным магнитным полем. Si, 5г - щели ионного источника а приемника ионов. треугольник - область однородного магнитного полп а, перпендикулярного плоскости рисунка. тонкие сплошные линии - границы пучков ионов с разными т / е. г - радиус центральной траектории ионов. [20]

Высота пика пропорциональна содержанию данного изотопа. Для полной характеристики разрешающей способности прибора необходимо знать форму ионного пика, к-рая зависит от мн. [21]

На рис. 5 показаны две кривые ионизации для Аг % снятые с применением импульсного вытягивания ионов. Кривая А, представляющая зависимость ионного тока от энергии электронов, была получена при условии, что напряжение на аноде Va не менялось. Кривая Б представляет зависимость изменения величины ионного тока, соответствующего изменению напряжения на аноде на величину AF0 0 1 эв, от энергии электронов. Поскольку при применении метода Фокса и сотрудников ионные токи получаются меньшей величины, чем в обычном методе, на вход динамического электрометра подавалось компенсирующее напряжение, так что измерялась только верхняя часть ионного пика. [22]

Принципиальная схема приемника ионов. [23]

Изменение расстояния между щелями такой системы осуществляется путем перемещения одной подвижной щели, в то время как другая остается неподвижной. Неподвижная щель расположена в фокальной плоскости, что соответствует центральному лучу. Все остальные пики, находящиеся справа и слева от центрального луча, будут регистрироваться более размытыми, чем центральный, так как линия их фокусов находится в другой плоскости. Учитывая это, а также размытости ионных пучков вследствие возможного расширения выходной щели ионного источника, величины щелей приемника мы выбрали не одинаковыми: для интенсивности, соответствующей более распространенной массе, щель в 1 5 раза превышает ширину щели для редкого изотопа. Ионный пик малораспространенного изотопа попадает на коллектор через неподвижную щель; в свою очередь максимум интенсивности ионного тока, соответствующего более распространенному изотопу, достигается в определенном положении подвижной щели. [24]

Страницы: 1 2