Фотографическая пластина

Cтраница 2

Схематическое изображение интерферометра Майкельсона. [16]

Два пучка складываются при соответствующих условиях и образуют интерференционные полосы, которые видны глазом Е или фокусируются на фотографическую пластину. В изображенной системе компенсирующая пластина С выполнена из того же стекла и той же толщины, что и S, так что в видимом свете пути двух пучков будут одинаковы. Поступательное положение одного из двух зеркал может быть точно зафиксировано. Кроме того, каждое зеркало имеет три вращающих винта, чтобы регулировать соотносительные расположения зеркала MI и мнимого изображения М, или зеркала Мг. Таким образом, установкой двух зеркал могут быть получены полосы интерференции. Если зеркало / И ] заменить посеребренным образцом со ступенькой, представляющей толщину пленки, как показано на рис. 3 - 5, и если использовать монохроматический свет с длиной волны X, то тогда толщина пленки может быть определена простым соотношением d - ДЛ / Я / 2, где & N высота ступеньки, выраженная числом полос. [17]

Относительное расположение сканирующего пятна диаметром 20 мкм и поперечных сечений волокон различных диаметров при их гексагональной. [18]

Было установлено11, что для динамической передачи изображения необходимо, чтобы весь оптический элемент ( одновременно входной и выходной торцы элемента) сканировал относительно объекта и фотографической пластины. [19]

Примеры комбинации полей, обеспечивающей двойную фокусировку с действительным промежуточным изображением. [20]

Типичным примером прибора с одинаковым направлением отклонений служит масс-спектрограф Бейнбриджа и Джордона ( 1936), в котором точная двойная фокусировка осуществляется только в одну точку на фотографической пластине. [21]

Это обстоятельство часто оказывается существенным, так как излучение с триплетного уровня может обладать малой интенсивностью и может лежать в той области спектра, для исследования которой необходимо применение специальных фотографических пластин, сенсибилизированных к этой области. Экспериментальное изучение спектров излучения сопряжено с известными трудностями, вызванными наличием явлений переноса энергии, аналогичных явлениям, описанным в гл. VI; известно также, что сначала спектральные линии приписывали излучению с триплетных уровней молекул, а потом оказывалось, что они обусловлены примесями. Даже в тех случаях, когда концентрация примесей меньше 1: 106, все же они могут оказаться ответственными за все наблюдаемое излучение. Поэтому при исследовании спектров излучения необходимо готовить образцы с исключительной тщательностью, а там, где это возможно-проверять полученные результаты, изучая соответственный спектр поглощения. [22]

Примерно в это же время Флюгге ( 1961) представил предварительные результаты по регистрации масс-спектра кремния при помощи искрового источника ионов и времяпролетного масс-спектрометра, а Дернен-бург и Хинтенбергер ( 1961) использовали электрическую регистрацию как вспомогательное средство для определения чувствительности фотографической пластины. [23]

Типичная про - ответствующую плоскость ( обычно - одну из / ZSZLTo гРаней кристалла -. Эти карты, состоящие из данным дифракции рент - РяДа контурных линии, позволяют определить геновских лучей для мо - положение молекул в кристалле и атомов в иокриеталла. молекуле. На показана типичная про. [24]

Монохроматический пучок параллельных рентгеновских лучей падает на монокристалл исследуемого соединения. Дифракционная картина регистрируется фотографической пластиной. Поскольку кристалл имеет три измерения, для определения его строения необходимо снять серию фотографий, используя различные ориентации. [25]

Блок-схема масс-спектрометра. / - диафрагма с отверстием. 2 - ионизационная камера. 3 - ионно-оптическая система. 4 - откачка системы вакуумным насосом. 5 - электростатический анализатор. 6 - пучок ионов. 7 - магнитный анализатор. 8 - коллектор. 9 - усилитель. 10 - регистрирующее устройство. [26]

В приборах конструкции Маттауха - Герцога все ионные пучки после масс-сепарации фокусируются в одной плоскости. В этом случае детектором может служить фотографическая пластина, которая одновременно регистрирует все ионные пучки. [27]

Для разделения изотопов большая дисперсия является преимуществом, но для масс-спектрографов это в определенном смысле недостаток. Она приводит к уменьшению плотности пучка у фотографической пластины, поэтому чувствительность падает. [28]

Рентгенограмма монокристалла натроли-та - природного цеолита. ( По данным Schmitt R.A., Hopkins Т.Е.| Дифракция рентгеновских лучей на порошкообразном образце. [29]

Дифракционный рентгеноструктурный анализ может осуществляться двумя способами-на крупных кристаллах ( монокристаллах) или порошкообразных ( поликристаллических) образцах. Рассеиваемые от кристаллов рентгеновские лучи регистрируют на фотографической пластине либо каким-нибудь счетчиком, например сцин-тилляционным или счетчиком Гейгера. Дифракционная картина при рассеянии рентгеновских лучей на монокристалле ( рис. 10.11) представляет собой совокупность пятен, возникающих в результате отражения лучей от различных плоскостей кристалла при его вращении относительно падающего пучка рентгеновских лучей. В отличие от этого в порошкообразном образце имеется множество кристалликов, ориентированных под всевозможными углами, и в результате отражения рентгеновских лучей от различных кристаллических плоскостей всех этих кристалликов возникает ряд конусообразных пучков рассеянных лучей. [30]

Страницы: 1 2 3 4