Cтраница 5
Электронографические исследования пленок толщиной порядка 1000 А показали, что они состоят из гексагональных кристалликов, обычно ориентированных плоскостью ( 0001) параллельно подложке, с азимутальной разориентировкой. В тех случаях, когда золотые пленки, используемые в качестве подложек, характеризуются высокой степенью упорядочения и ориентированы плоскостью ( 111) параллельно поверхности, имеет место эпитаксиальный рост, и пленки CdS продолжают расти так, чтобы ось С была перпендикулярна к поверхности, даже при наклонном падении потока испаряемых частиц. Если золотые пленки ориентированы беспорядочно, напыление в наклонном потоке приводит к образованию пленок с совершенно другой ориентацией. [61]
Весьма распространено также и оттенение золотом, однако, как показали исследования [87], при интенсивном воздействии электронного пучка золотая пленка рекристаллизируется и становится крупнозернистой. Это ограничивает применение золота для исследований, ведущихся при больших увеличениях, когда для получения необходимой яркости изображения приходится увеличивать интенсивность пучка. Зернистость золотых пленок может быть значительно уменьшена сплавлением золота с марганцем ( 91) или с палладием. [62]
Схема устройства подобного фотоэлемента следующая. На опорный металлический электрод наносится слой полупроводника, поверх которого осаждается полупрозрачная пленка золота. Между золотой пленкой и полупроводником создается запирающий слой. Поверх золотой пленки накладывается защитный слой прозрачного лака. [63]