Ферритовая пленка
Cтраница 2
Имеется сообщение [165] о получении также ферритовых пленок разложением МОС в паровой фазе. [16]
 |
Коэффициенты самодиффузии ионов в некоторых ферритах. [17] |
По данным [33], магнитные свойства ферритовых пленок, приготовленных испарением в вакууме или катодным распылением, значительно хуже, чем у соответствующих объемных ферритов. Например, коэрцитивная сила Яс пленки феррита меди, полученной в работе [33], составила 144 э, что связано со структурными несовершенствами и малым размером зерна в пленке. [18]
Магнитные металлические пленки имеют лучшие характеристики, чем ферритовые пленки, и весьма перспективны для применения в запоминающих устройствах цифровых вычислительных машин. Они позволяют повысить скорость срабатывания с 1 мксек до 30 нсек. [19]
Отметим, что во всех случаях различие теплохимических свойств ферритовой пленки и подложки приводит к возникновению обратимых термоупругих напряжений, величина которых уменьшается при термической обработке. Это наглядно иллюстрируют данные Беккера [44, 45], вырастившего ферритовые пленки состава Mg0 833Mno 476Feii69iO4 v методом транспортных реакций. После термической обработки при 1000 С 2 час, независимо от парциального давления кислорода в газовой фазе, форма петли гистерезиса становится более прямоугольной, коэрцитивная силы уменьшается, индукция растет, а поверхностное электрическое сопротивление резко увеличивается. С увеличением температуры и продолжительности термической обработки рельеф поверхности становится менее шероховатым, причем конечная шероховатость уменьшается почти вдвое. [20]
Таким образом, наиболее существенным фактором, лимитирующим скорость роста ферритовых пленок в малом зазоре, является скорость диффузии, которая определяется давлением хлороводорода, температурой и временем транспорта. [21]
В общем случае ионная бомбардировка может приводить к возникновению в ферритовой пленке механических напряжений, искажению решетки, изменению оптической проницаемости, показателя преломления и других параметров. Возможные изменения определяются дозой облучения и энергией внедренных ионов. [22]
Отметим, что во всех случаях различие теплохимических свойств ферритовой пленки и подложки приводит к возникновению обратимых термоупругих напряжений, величина которых уменьшается при термической обработке. Это наглядно иллюстрируют данные Беккера [44, 45], вырастившего ферритовые пленки состава Mg0 833Mno 476Feii69iO4 v методом транспортных реакций. После термической обработки при 1000 С 2 час, независимо от парциального давления кислорода в газовой фазе, форма петли гистерезиса становится более прямоугольной, коэрцитивная силы уменьшается, индукция растет, а поверхностное электрическое сопротивление резко увеличивается. С увеличением температуры и продолжительности термической обработки рельеф поверхности становится менее шероховатым, причем конечная шероховатость уменьшается почти вдвое. [23]
В точечных ЗУ информация записывается на некотором оптическом транспаранте ( пластинка, пленка) отдельными битами в виде участков или точек с различными оптическими свойствами. Одним из наиболее перспективных материалов для таких ЗУ являются ферритовые пленки с термомагнитной записью и магнитооптическим считыванием информации. В оптических ЗУ может быть достигнута очень высокая плотность записи информации. [24]
Наиболее распространен метод рентгеноспектрального анализа с применением стандартов. В нашем случае это значит, что для анализа вновь полученных ферритовых пленок необходимо иметь большой набор различающихся по составу и толщине ферритовых пленок, причем их состав и толщина должны быть известны. Однако несовершенство методов получения ферритовых пленок, в том числе использованного нами метода транспортных реакций в малом зазоре, не позволяет даже в одинаковых условиях получать одинаковые пленки из одного и того же массивного феррита, тем более изготовить необходимый набор пленок. Кроме того, вряд ли целесообразно тратить много времени и усилий на подготовительную работу по рентгеноспектральному анализу в условиях, когда сам анализ необходим для относительно небольшого количества образцов. [25]
Наиболее распространен метод рентгеноспектрального анализа с применением стандартов. В нашем случае это значит, что для анализа вновь полученных ферритовых пленок необходимо иметь большой набор различающихся по составу и толщине ферритовых пленок, причем их состав и толщина должны быть известны. Однако несовершенство методов получения ферритовых пленок, в том числе использованного нами метода транспортных реакций в малом зазоре, не позволяет даже в одинаковых условиях получать одинаковые пленки из одного и того же массивного феррита, тем более изготовить необходимый набор пленок. Кроме того, вряд ли целесообразно тратить много времени и усилий на подготовительную работу по рентгеноспектральному анализу в условиях, когда сам анализ необходим для относительно небольшого количества образцов. [26]
 |
Магнитооптический модулятор, или переключатель на оптическом пленочном волноводе из феррита-граната. [27] |
Постоянное магнитное поле было направлено под углом 45 к направлению распространения света в плоскости пленки, а модулирующее поле вдоль направления распространения создавалось пропусканием тока через пленочный электрод специальной формы, нанесенный непосредственно на ферритовую пленку. [28]
Как показывает опыт, прогресс в создании новых феррнтовых материалов с контролируемыми и воспроизводимыми свойствами может быть достигнут лишь совместными усилиями специалистов в области радиоэлектроники, физики магнитных явлений н химии твердого тела. Между тем эта, казалось бы, прописная истина нередко предается забвению, н технологические поиски во многих лабораториях зачастую ведутся эмпирически, Такой подход к выбору оптимальных условий синтеза поликристаллических ферритов, монокристаллов и ферритовых пленок н по сей день доминирует в технологии ферритов. [29]
Наиболее распространен метод рентгеноспектрального анализа с применением стандартов. В нашем случае это значит, что для анализа вновь полученных ферритовых пленок необходимо иметь большой набор различающихся по составу и толщине ферритовых пленок, причем их состав и толщина должны быть известны. Однако несовершенство методов получения ферритовых пленок, в том числе использованного нами метода транспортных реакций в малом зазоре, не позволяет даже в одинаковых условиях получать одинаковые пленки из одного и того же массивного феррита, тем более изготовить необходимый набор пленок. Кроме того, вряд ли целесообразно тратить много времени и усилий на подготовительную работу по рентгеноспектральному анализу в условиях, когда сам анализ необходим для относительно небольшого количества образцов. [30]
Страницы: 1 2 3