Cтраница 2
Черные пятна возникают только в пенных пленках высокоустойчивых пен. При низкой концентрации пе-ностабилизатора-детергента, когда пена еще мало устойчива, они не образуются. Оказалось, что Сч совпадает с концентрацией, при которой время жизни пен резко возрастает. Это определяет важность величины Сч как характерной константы для каждого пенообразующего вещества: для получения стабильной пены необходимо приготовить раствор, концентрация которого немного превышает Сч для данного вещества. [16]
Отличие устойчивости смачивающих пленок от устойчивости пенных пленок обусловлено различием подвижностей поверхности, а при наличии твердых поверхностей - их недеформируемостью. Деформируемость сфер приводит к значительному увеличению энергии сцепления. [17]
Согласно первой гипотезе, высказанной Плато, прочность пенных пленок и пен обусловлена тем, что вытекание жидкости из них сильно замедлено. Так как скорость этого гидродинамического процесса определяется вязкостью раствора в пленке, то роль детергента ( стабилизатора пены) сводится к тому, что он увеличивает вязкость и тем самым замедляет вытекание жидкости из пленки. [18]
Стабильность этих пен, очевидно, обусч-ловлена устойчивостью тончайших пенных пленок, стабилизированных детергентами. Поэтому ряд ученых - Перрен, Май-селе, Шелудко и другие - сосредоточили свое внимание на исследовании единичных пенных пленок. [19]
Зоннтага и др. Эти исследования обычно проводят на индивидуальных пенных пленках, например микропленках, с помощью изображсЕной на рис. Х-4 ячейки, разработанной Шелудко. После заполнения ячейки раствором пенообразователя ( до появления капли на нижней строне ячейки) начинают отсасывать раствор с помощью микронасоса, соединенного с боковым отводом, при этом сверху и снизу в ячейке образуются мениски ( рис. Х-4), которые по мере отсасывания жидкости постепенно сближаются. При соприкосновении менисков в их центре возникает микроскопическая пленка, окруженная широким каналом Гиббса-Плато, давление в котором ( см. гл. IX, 1) понижено по сравнению с атмосферным на величину 2а / го, где го - радиус канала ячейки. [20]
На рис. 33 приведены полученные различными авторами зависимости равновесных толщин пенных пленок от ионной силы раствора. Равновесные толщины, найденные Шелудко при АР0 760 дин / смг, относятся к потенциалу диффузного слоя 90 мв. [21]
Рассмотренный в конце предыдущего параграфе процесс образования тонких участков в более толстой пенной пленке хорошо известен и описан еще со времен Плато. Тчк как эти очень тонкие участки слабо отражают видимый свет, они выглядят в отраженном свете как черные пятна. [22]
Рассмотренный в конце предыдущего параграфа процесс образования тонких участков в более толстой пенной пленке хорошо известен и описан еще со времен Плато. Так как эти очень тонкие участки слабо отражают видимый свет, они выглядят в отраженном свете как черные пятна. [23]
Тесная связь между устойчивостью пен и появлением черных пятен в микроскопических пенных пленках [1, 2] показывает, что черные пленки являются важным элементом для высокоустойчивых пен. Эти образования были исследованы в ряде работ [1, 3-9], однако полученные данные не дают еще вполне явной картины их структуры. Измерение толщины наиболее тонких пленок является трудной задачей вследствие малых значений этих толщин и неясности структуры. [24]
Рассмотренный в конце предыдущего параграфе, процесс образования тонких участков в более толстой пенной пленке хорошо известен и описан еще со времен Плато. [25]
Мы уже говорили, что пена разрушается в результате истечения жидкости из пенных пленок, диффузии газа из одних пузырьков в другие и разрыва отдельных пленок внутри пены. Структура пены предопределяет, какой из этих процессов будет наиболее разрушительным. Так, в пенах с толстыми стенками происходит интенсивное истечение жидкости из пленок, а в пенах высокой кратности ( тонкостенных), а также в пенах, образованных вязкими жидкостями, разрушение вызывается в первую очередь диффузией газа. [26]
В настоящее время накоплена уже довольно большая информация о свойствах и особенностях черных пенных пленок [1-4], что обусловлено их большим значением для устойчивости пен, эмульсий и других дисперсных систем. Для описания первичных и более толстых пленок используется трехслойная сендвичи-модель, рассматривающая пленку как сочетание двух адсорбционных слоев пеностабилизатора, разделенных слоем водного раствора. Устойчивость этих пленок в первом приближении описывается теорией устойчивости лиофобных коллоидов ДЛФО [ 5, см. с. Для вторичных пленок картина менее ясна, и не существует количественной теории, описывающей их состояние. Применение сендвич - модели к пленкам такой малой толщины, так же как и применение теории ДЛФО без учета размера ионов и адсорбции в слое Штерна, является мало обоснованным. В частности, neat - фаза и фаза геля состоят из плоско-параллельных бимолекулярных слоев ПАВ, разделенных прослойкой, воды, что позволяет рассматривать вторичные черные пленки как повторяющиеся структурные единицы этих фаз. Это обстоятельство делает интересным параллельное исследование некоторых объемных свойств высококонцентрированных растворов данного ПАВ и черных пленок, полученных из его разбавленных растворов. [27]
Исследовано влияние рН на потенциал диффузного электрического слоя, измерения проводились с микроскопическими пенными пленками, из равновесной толщины которых ( определяемой микрсчнтерференционным методом) по теории ДЛФО вычислялись значения потенциала. [28]
В 1953 г. Дерягин и Титиевская успешно применили предложенный Перреном и Уэллс интерферометрический метод измерения толщины пенных пленок при исследовании пленок разбавленных водных растворов электролитов с различными поверхностно-активными стабилизаторами. Их внимание было сосредоточено в основном на равновесных пленках, образующихся за счет электростатической компоненты расклинивающего давления. [29]
Таким образом, мы имеем основание считать, что эластичность, существование которой бесспорно вытекает из всех наших представлений об адсорбции, не является определяющим фактором в механизме устойчивости пенных пленок. [30]