Плоскость - апертура - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 2
Ценный совет: НИКОГДА не разворачивайте подарок сразу, а дождитесь ухода гостей. Если развернете его при гостях, то никому из присутствующих его уже не подаришь... Законы Мерфи (еще...)

Плоскость - апертура

Cтраница 2


16 Иллюстрация к вычислению взаимной спектральной плотности дальнего поля, создаваемого плоским источником. Si и 5 2 - две точки источника, PI и Р - две точки в дальней зоне. [16]

Мы будем использовать первичный источник, который расположен на одной стороне, скажем z 0, от плоскости апертуры и который излучает в полупространство z 0 в другую сторону от апертуры.  [17]

18 К определению координат при прохождении света через отверстие произвольной формы. [18]

А - постоянная, л и s - расстояния, указанные на рис. 7, a dQ - элементарная площадка в плоскости апертуры в некоторой произвольной точке Q. Однако его физический смысл можно легко объяснить следующим образом: точечный источник, расположенный в точке Р0, излучает сферическую волну ( eikr) lr и заполняет ею всю апертуру, которая в свою очередь вырезает часть сферической волны. В апертуре каждая точка волнового фронта становится новым источником расходящихся сферических волн вида etksls; затем берется интеграл по всем таким точкам Q в плоскости апертуры.  [19]

Каналы К % и Кь служат для обработки локационного сигнала при небольшом отношении сигнал / шум и при малом радиусе кор реляции фазовых флуктуации в плоскости апертуры, обусловлен ных турбулентностью атмосферы. Канал К2 используется при локации целей с зеркальными поверхностями, а канал Кь для целей с шероховатыми поверхностями. Каждый из каналов Къ и Кь в свою очередь, содержит два различных канала обработки принимаемого сигнала. В / С2 входят: канал с традиционной голографической обработкой и канал с формированием безопорной голограммы. В голо-графическом канале осуществляется обработка, подобная той, которая имеет место в канале К. Однако в данном случае интенсивность после голографической обработки не сразу используется для вычисления углового функционала. Вначале она регистрируется в фокальной плоскости собирающей линзы, а затем просвечивается через маску с коэффициентом прозрачности, сформированным в соответствии с параметрами состояния атмосферы, получаемыми из системы оперативного зондирования. В интенсивностном канале осуществляется регистрация безопорной голограммы и ее сверка с эталонными голограммами. Результаты обработки сигнала в обоих каналах позволяют вычислить соответствующий условный функционал.  [20]

21 Метод преобразования колебаний. [21]

Толщина ферритовой пластины составляла 6 25 мм ( размер df на рис. 3 6); эта величина была подобрана экспериментальным путем, исходя из условия получения достаточно большого отклонения луча при размещении пластины в плоскости апертуры.  [22]

23 Схема формирования светлопольного и темнопольного изображения ( А В от участка образца ( АВ в методе просвечивающей электронной микроскопии. 1 - образец в параллельном пучке электронов, 2 - объектная линза, 3 - плоскость обратного фокуса, 4 - плоскость изображения, 5 - апертура. [23]

Морфология катализаторов может быть определена также методом просвечивающей электронной микроскопии, основанной на просвечивании тонкого слоя катализатора пучком высокоэнергетических электронов. Прошедшие через тонкопленочный образец катализатора электроны фокусируются на плоскость апертуры с помощью объектной линзы, а их увеличенное изображение детектируется на плоскости изображения, например на фоточувствительной бумаге. Кратность увеличения ( до одного миллиона раз), и, как следствие, разрешающая способность метода определяется, прежде всего, ускоряющим напряжением первичного пучка электронов.  [24]

Предшествующие эксперименты показывают, что при подаче к аналогичной системе колебаний ТЕю и ТЕ2о с надлежащим соотношением амплитуд и фаз получаются аналогичные диаграммы излучения. Поскольку колебания различных видов распространяются с различными скоростями, их относительные фазы в плоскости апертуры могут регулироваться путем изменения толщины ферритовой пластины. Таким образом, экспериментальная регулировка толщины ферритовой пластины позволяет получить оптимальное смещение луча.  [25]

Исследуемая антенная система очень чувствительна к регулировке положения ферритовой пластины относительно плоскости апертуры. Так, например, при условии, когда длина выступающей части ферритовой пластины из плоскости апертуры ( /) равна 1 мм ( рис. 3 с), наблюдается изменение формы луча и возникновение дополнительных лепестков. Возможно, это обусловлено нарушением равномерного распределения поля в области, находящейся перед апертурой.  [26]

27 Изменения Я0 и б в зависимости от частоты. [27]

Установлено наличие линейной зависимости между напряженностью магнитного поля и частотой. Во всех предшествующих экспериментах антенная система, состоящая из волновода с ферритовой пластинкой в плоскости апертуры, использовалась для передачи сигналов, тогда как прием осуществлялся на рупорную антенну. Однако при исследовании обратимости рупорная антенна служила для передачи сигналов, принимаемых на волноводную антенну.  [28]

Если облучение апертуры однородно, каждый ее элемент между плоскостями, перпендикулярными оси х и разделенными одинаковым расстоянием, дает одинаковый вклад в электрический вектор поля в дальней зоне. Таким образом, эффективный фазовый центр полного излучения должен находится на оси х, где-то на полпути между фокальной точкой и плоскостью апертуры.  [29]

Это означает, что перпендикулярная проекция каустики на плоскость апертуры совпадает с центром кривизны самой апертуры. Для круглого отверстия каустика стягивается в прямую линию, проходящую через центр круга. Цилиндр, продолженный за плоскость апертуры, представляет собой виртуальную каустику дифрагированных лучей, образующих угол больше чем w / 2 с нормалью ft к границе. В общем случае наличие вещественной каустики обусловлено сильным дифрагированным полем.  [30]



Страницы:      1    2    3