Плоскость - кристалл
Cтраница 2
Чтобы обозначить расположение плоскостей кристалла в пространстве, имеют обыкновение относить их к осям координат, так называемым кристаллографическим осям. [16]
При отвердевании металла плоскости кристаллов не могут свободно развиваться. Каждый отдельный кристалл испытывает давление со стороны соседних растущих частиц. Поэтому форма кристалла искажается. В промежутках между кристаллами скапливаются содержащиеся в металлах загрязнения, окислы, шлаки. [17]
Зоной называется совокупность плоскостей кристалла, пересекающих одну и ту же прямую - ось зоны; плоскости зоны напоминают листы свободно раскрытой книги, а в оптике рентгеновских лучей их действие эквивалентно дискретно поворачивающемуся около оси зеркалу. [18]
 |
Построение - ют. 1. [19] |
Зона - совокупность плоскостей кристалла, параллельных определенному направлению ( оси зоны), или иначе - совокупность плоскостей, перпендикулярных определенной плоскости. [20]
При отвердевании металла плоскости кристаллов не могут свободно развиваться. Каждый отдельный кристалл испытывает давление со стороны соседних растущих частиц. Поэтому форма кристалла искажается: такие кристаллические частицы, которые приняли неправильную форму вследствие вынужденных условий кристаллизации, называются кристаллитами. В промежутках между кристаллитами скапливаются содержащиеся в металлах загрязнения, окислы, шлаки. [21]
Идея получения отражений от плоскости кристаллов с использованием гомогенных или монохроматических рентгеновских лучей при медленном вращении кристалла под подходящим для каждой плоскости углом была выдвинута в работах и В. [22]
Таким образом шлифуют одну плоскость кристалла. Когда нужно шлифовать и другую его плоскость, кассету нагревают, снимают с нее кристаллы, отмывают, измеряют их толщину и вновь наклеивают на кассету. В настоящее время шлифовка кристаллов встречается крайне редко. [23]
При этом важные и обильно заселенные плоскости кристалла оказываются лежащими в горизонтальной плоскости. Если кристалл не движется, то при использовании монохроматического рентгеновского излучения лишь немногие плоскости ориентированы так, чтобы удовлетворялось соотношение Брегга. [24]
 |
Рентгенограмма A1N по методу вращающегося кристалла.| Схема порошкового 4 метода. [25] |
Отражение рентгеновских лучей от плоскостей кристалла обусловлено рассеиванием их электронами, входящими в состав заполняющих данную плоскость частиц. Очевидно, что при одинаковом заполнении плоскостей самими частицами рассеивание ( а следовательно, и отражение) должно быть тем сильнее, чем больше содержится электронов в каждой из них. [26]
Причина различной преимущественной ориентации плоскостей кристаллов в процессах вытягивания и релаксации волокон неизвестна. [27]
 |
Схематическое изображение ориентировок некоторых фторидов на различных монокристаллах. [28] |
В скобках указаны индексы плоскостей фторидных кристаллов, параллельных подложке. Стрелкой обозначено наличие аксиальной текстуры. [29]
Каков наименьший угол между плоскостями кристалла и пучком рентгеновских лучей, при котором эта длина волны может быть обнаружена. [30]
Страницы: 1 2 3 4