Cтраница 3
Известно, что пластическая деформация кристаллических тел является следствием движения дислокаций в определенных плоскостях. Кривая упрочнения в какой-то мере отражает интегральный характер зарождения и движения дислокаций, их взаимодействие с решеткой, между собой и другими структурными несовершенствами кристаллов. Одной из важных характеристик кривой упрочнения кристаллов является напряжение начала пластической деформации. Фактически оно соответствует стартовому напряжению дислокаций ( TS), зарождение и смещение которых представляет собой элементарный акт пластической деформации. В некоторых случаях эти величины совпадают со значением критических скалывающих напряжений ( КСН), вычисленных по кривым растяжения как напряжение начала отклонения зависимости а ( е) от линейного закона в упругой области деформации. Самыми развитыми плоскостями и направлениями скольжения являются плотноупакованные, поэтому изменения сопротивления деформированию у облученных кристаллов прежде всего определяются количеством дефектов и полем напряжений в этих плоскостях. [31]
Для совмещения необходимо спектр паров сместить в шкале частот на 213 сж - в длинноволновую сторону. Снимки I и III - это две компоненты ( соответственно двум поляризациям падающего на кристалл света) спектра кристалла, разность хода в котором равна приблизительно 350 нм при толщине 2 мкм. Снимок II - одна из компонент спектра другого кристалла, разность хода в котором составляет около 200 нм при той же толщине. Вторая компонента спектра этого кристалла аналогична компоненте III первого кристалла и поэтому не приведена на рисунке. Сопоставление компонент спектров этих кристаллов показывает, что развитые плоскости их принадлежат разным срезам одной и той же кристаллической решетки. Спектр III соответствует поглощению кристалла при ориентации электрического вектора световой волны приблизительно вдоль общего ребра этих двух срезов решетки. Отсутствие данных об ориентации молекул в решетке кристаллического ж-ксилола затрудняет более полную идентификацию развитых плоскостей исследуемых кристаллов. [32]
Можно было бы предположить, что полоса 0 - 0 735 поляризована в направлении оси г, перпендикулярной к плоскости молекулы. В таком случае симметрия колебания 735 сж - должна быть А. Однако согласно изложенному выше сочетание колебания А. Следовательно, ни один из видов колебаний, происходящих в молекуле толуола, для которой выбрана симметрия С2гп не может быть использован для удовлетворительного объяснения поляризации полосы, отстоящей на 735 см от 0 - 0 перехода. ВТМ ведет себя точно так же, как и другие полносимметричные частоты. Однако следует отметить, что спектры кристаллов ВТМ с другими развитыми гранями отсутствуют, между тем несимметричный характер соответствующего колебания в кристалле НТМ обнаруживается только при сравнении спектров образцов с разными развитыми плоскостями. [33]