Атомная плоскость - кристалл
Cтраница 4
В этих направлениях происходит сильное отражение от атомных плоскостей кристалла. В результате в кристалле распространяются 2 плоские волны под углом друг к другу и напряженность лнтсрфсренц. Поэтому у-кванты не теряют энергию на нырынашю электронов и резко понижается вероятность поглощения у-кваптов. Однако одновременно с этим понижается и величина козф. Тем lie менее использование ядерных переходов мультшюль-пости выше, чем Е1, дает результирующий выигрыш. Играет роль и форма кристалла. В иглообразном кристалле возникают моды с устойчивой поперечной конфигурацией, для которых поглощение мало, как и 412 для плоских воли в условиях эффекта Бормана. [47]
 |
Расположение семейства отражающих плоскостей кристалла относительно падающего рентгеновского луча и направления максимума интерференции. [48] |
Брегга указывает на селективность ( избирательность) появления отраженных рентгеновских лучей. В этом заключается различие между отражением рентгеновских лучей от атомных плоскостей кристалла и отражением оптических лучей от зеркала. Если для оптических лучей непрерывно менять угол между зеркалом и первичным лучом, то отраженный луч будет очень мало менять свою интенсивность. Для рентгеновских же лучей кривая интенсивности является кривой с резко выраженными максимумами. [49]
На грань некоторого кристалла падает под углом 60 к поверхности грани параллельный пучок электронов, движущихся с одинаковой скоростью. Определить скорость электронов, если они испытывают интерференционное отражение первого порядка / Расстояние между атомными плоскостями кристалла 2 А. [50]
 |
Ориентировка типовых срезов относительно осей кристалла кварца. [51] |
Распиловку кристаллов кварца производят алмазным инструментом. Определение направлений разделки кристалла и контроль над точностью ориентировки в процессе резания производят по отражению рентгеновских лучей от атомных плоскостей кристалла ( рентгенгониометрия) или по фигурам астеризма травленой поверхности кварца. [52]
 |
К выводу уравпгпия Вульфа-Брегга. [53] |
Если пучок рентгеновых лучей падает не на изолированный атом, а на совокупность атомов кристаллической решетки, то лучи, рассеянные разными атомами, закономерно интерферируют. Результаты интерференции при соблюдении определенных условий бывают таковы, как если бы первичный пучок лучей испытывал отражение от параллельных атомных плоскостей кристалла. [54]
 |
Расположение атомов в дислокации, о - линейная дислокация. 0 - винтовая дислокация. [55] |
У линейной дислокации сдвигающие напряжения, образовавшие ее, были перпендикулярны линии дислокации. Дислокация, изображенная на рис. 1 - 6 6, называется винтовой потому, что, перемещаясь по стрелке, можно обойти все атомные плоскости кристалла как по винту или по спирали. [56]
 |
Схема возникновения двойного вульф-брэгговского отражения ( ДВБО. [57] |
СС будет испытывать повторное отражение C R от любой атомной плоскости той же системы P PI - Отраженный луч идет параллельно первичному, но несколько смещен в направлении соответствующего рефлекса. Избавиться от двойного отражения при исследовании неоднородно-стей в монокристалле легко: достаточно ориентировать его по отношению к первичному лучу так, чтобы ни одна система атомных плоскостей кристалла не отражала основную спектральную линию применяемого излучения; отражением лучей сплошного спектра при хорошей фильтрации можно пренебречь. [58]
Хотя газы имеют более низкие атомные номера, чем серебро, а следовательно, и более низкую рассеивающую способность, тем не менее можно легко получить дифракционную характеристику отдельного монослоя газа ( кроме водорода) на поверхности твердого тела, если только, как это обычно и бывает [5], атомы газа образуют решетку, несколько отличную от решетки твердого тела. Если атомы газа в поверхностном монослое образуют ту же самую решетку, что и кристалл-носитель, то присутствие атомов газа можно обнаружить, когда расстояние между поверхностным монослоем и атомной плоскостью кристалла отличается от расстояния между двумя соседними атомными плоскостями ( в твердом теле-носителе) с такими же миллеровскими индексами. Присутствие газа на поверхности может быть обнаружено в столь малых количествах, как несколько процентов от одного монослоя. Если адсорбированы два или более монослоев газа, то внешний слой является аморфным, и он может сделать совершенно невозможным наблюдение дифракционного рассеяния от расположенного под ним кристалла. Поэтому обычно для того, чтобы наблюдать дифракцию, необходимо тщательно очистить твердую поверхность в высоком вакууме путем нагревания или другим способом. На некоторых кристаллах даже первый монослой газа имеет аморфную структуру. В этом случае единственным доказательством наличия адсорбированного газа является уменьшение интенсивности дифракционного потока от кристалла-носителя. [59]
Сплошной спектр этих лучей позволяет получить от неподвижного образца сразу несколько отражений, дающих на пленке серию пятен. Расположение этих пятен зависит от ориентации кристалла относительно падающего луча и от формы и размеров элементарной ячейки кристалла. Каждая атомная плоскость кристалла отражает лучи определенной длины волны, что создает на рентгенограмме сетку пятен, каждое из которых соответствует определенной кристаллографической плоскости. Полученные снимки позволяют определить симметрию кристалла и его ориентацию, даже в случае искажения его внешней формы. Рентгенограмма обнаруживает симметрию пятен, совпадающую с истинной симметрией кристалла. [60]
Страницы: 1 2 3 4 5