Атомная плоскость - кристалл
Cтраница 2
Различают: 1) отражение от атомных плоскостей кристалла ( см. Дифракция рентгеновских лучей), к-рое описывается Брэгга-Вулъфа условием н выявляет структуру кристаллнч. [16]
 |
Рентгенограмма враще ния монокристалла.| Исследование структуры металла методом порошков. [17] |
Каждое пятно на такой рентгенограмме соответствует определенной атомной плоскости кристалла, от которой при вращении кристалла отражаются лучи определенной длины волны. [18]
Из этого рисунка видно, что каждая третья атомная плоскость кристалла А согласуется с каждой второй плоскостью кристалла В. Можно считать доказанным, что границы с большим углом, обычные для поликристаллических металлов и сплавов, полученных стандартными методами, создают области с неупорядоченной структурой. Их ширина не превышает трех атомных диаметров ( 10 А) и на этом расстоянии атомы переходят из положений, характерных для одного зерна, в характерные для другого. Энергия такой границы, рассчитанная по скрытой теплоте плавления, отвечает измеренной энергии. [19]
 |
Связь между гномосте-реографической проекцией плоскости и дифракционным пятном на лауэграмме. [20] |
Для изображения взаимного расположения ребер, граней или атомных плоскостей кристалла пользуются его проекциями на плоскость или сферу. Кристалл при этом представляют в виде полярного кристаллического комплекса. [21]
Где d - постоянная решетки кристалла ( расстояние между атомными плоскостями кристалла), р - угол между пучком рентге новских лучей и поверхностью кристалла. [22]
Это позволяет трактовать явление дифракции как отражение рентгеновских лучей от атомных плоскостей кристалла. Такая интер -, претация дифракции чисто условна и не объясняет природы явления, но она упрощает его истолкование. [23]
В спектрографах, работающих на отражение, в качестве отражающих плоскостей используются атомные плоскости кристалла, параллельные его поверхности. При изготовлении пластинки для отражения рентгеновских лучей от плоскостей ромбоэдра пластинку выпиливают так, чтобы ее большая грань совпадала с естественной гранью ромбоэдра ( 1011), а короткая сторона пластинки - с линией пересечения грани ромбоэдра с гранью призмы. Толщина пластинок определяется соображениями удобства работы с ними. [24]
Автоион-нын микроскопический анализ - единственный метод анализа, позволяющий получать непосредственное изображение атомной плоскости кристалла с увеличением порядка 10е, но объектом исследования должно быть очень тонкое острие металла. Дислокационную структуру в кристаллах изучают наблюдением индивидуальных дислокаций ( см. Фигур травления анализ, Электронномик-роскопический анализ, Рентгенотопо-графический анализ); сюда же относится метод декорирования дислокаций. Применяют также косвенные методы, основанные на влиянии дефектов решетки на различные физ. [25]
Если в этом эксперименте предполагается, что п1, каково расстояние между атомными плоскостями кристалла. [26]
Обратная решетка - это набор узлов в пространстве, каждый из которых отвечает определенной атомной плоскости кристалла, отражающей рентгеновские лучи. [27]
Процесс каналирования заключается в том, что быстрый атом или ион двигается между соседними атомными плоскостями кристалла, отражаясь от каждой из них, как при полном внутреннем отражении оптического луча. [28]
Брэгга - Вульфа закон ( условие) гласит, что отражение рентгеновских лучей от параллельных атомных плоскостей кристалла наблюдается в том случае, когда лучи, отраженные ра. [29]
 |
Рентгенограмма, снятая по методу Л а у э с кристалла хлористого калия.| Разность хода лучей АВ ВС 2 d sin.| Схема спектрографа Б р е г г а для рентгеновых лучей. [30] |
Страницы: 1 2 3 4 5