Плотность - поток - электрон - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Для любого действия существует аналогичная и прямо противоположная правительственная программа. Законы Мерфи (еще...)

Плотность - поток - электрон

Cтраница 1


Плотность потока электронов равна / 4tieve exp ( - ец / Те), где ф - равновесный положительный потенциал плазмы по отношению к окружающим ее стенкам.  [1]

Плотность потока электронов может быть измерена, например, с помощью цилиндра Фарадея, концентрация молекул газа известна по давлению и температуре.  [2]

3 Зависимость дрейфовой скорости электронов от напряженности электрического поля при возникновении электрического домена. [3]

Пусть плотность потока электронов равна / w0N0, где N0 - средняя плотность электронов в плазме. Если поле в промежутке равно Ег или Е3, то малое увеличение плотности электронов вызывает рост поля, а следовательно, и дрейфовой скорости. Тем самым плотность потока электронов возрастает. Но поскольку это запрещено внешними условиями, то такое возмущение будет затухать.  [4]

Поскольку плотность потока электронов, распространяющихся в вакууме между анодом и катодом, очень мала, то противоположно направленные токи ук и уа не оказывают заметного противодействия друг другу.  [5]

Для управления плотностью потоков электронов между анодом и катодом может быть установлен управляющий электрод-сетка. Простейшим управляемым электровакуумным прибором является трехэлектродная лампа - триод.  [6]

Ясно, что ослабление плотности потока электронов dl при прохождении слоя dx газа равно числу столкновений электронов пучка с молекулами газа в этом слое.  [7]

8 Конструкции сеток. [8]

Сетка предназначается для управления плотностью потока электронов от катода к аноду.  [9]

10 Электронное изображение, образованное электростатической линзой. [10]

Однако при этом обычно уменьшается плотность потока электронов в плоскости изображения.  [11]

Знак минус учитывает, что плотность потока электронов убывает с ростом jc, т.е. по мере продвижения пучка в газе.  [12]

13 Микрофотография, полученная по методике Лоренца для пленки сплава Со-Аи. [13]

На сфокусированной картине, представляющей распределение плотности потока электронов на выходной поверхности, не обнаруживается влияния магнитного отклонения, потому что отклонения Рт настолько малы ( порядка 10 - 4 рад в типичных случаях), что все отклоненные электроны могут проходить через апертуру объектива.  [14]

В нашем распоряжении уравнение Пуассона и условие постоянства плотности потока электронов, которая определяется характеристиками внешней цепи.  [15]



Страницы:      1    2    3