Поверхность - контролируемый объект
Cтраница 1
Поверхность контролируемого объекта 5 очищают и просушивают. Объект помещают в камеру, уплотняют ее крышку и откачивают насосом 13 до остаточного давления не более 0 1 Па. Включают нагревательное устройство, нагревают объект до температуры около 400 СС и выдерживают при этой температуре от 5 мин до нескольких часов в зависимости от конструкции и назначения объекта контроля. Фиксируют фоновые показания течеискателя. В дальнейшем откачку ведут только насосом течеискателя. [1]
 |
Голографическая схема измерения объектов с использованием голограммы матового экрана в качестве шумового кодирующего звена. [2] |
На поверхности контролируемого объекта с помощью лазера и блока оптических элементов создают световое пятно. Отраженный от контролируемого объекта свет направляют на голограмму матового экрана и восстанавливают записанное на ней изображение шумового светового пятна. Свет, распространяющийся от изображения шумового светового пятна, освещает голограмму набора цифровых кодов, с которой восстанавливается изображение кода числа, равного перемещению или микродеформации контролируемого объекта. При этом разрешение в восстановленном изображении кодов определяется не размером восстанавливающего источника, а размером восстановленного голограммой светового пучка, который может быть сделан необходимо малым подбором размеров и структуры изображения шумового пятна. [3]
Размещение ПАЭ должно обеспечивать контроль всей поверхности контролируемого объекта. В ряде случаев по согласованию с заказчиком допускается размещение ПАЭ только в тех областях объекта, которые считают важными. Если не обеспечивается стопроцентное перекрытие зонами контроля всего объекта, то это должно быть отмечено в отчете по контролю с обоснованием использования данной схемы. [4]
Расход дефектоскопических материалов зависит от качества поверхности контролируемого объекта, ее расположения, консистенции материалов, способа их нанесения. Большее значение соответствует неровной поверхности объекта контроля, вертикальному расположению поверхности. Очистителя расходуется в 2 - 3 раза больше, чем пенетранта. Расход порошкообразного проявителя 40 - 50 г, а суспензии - 300 г на 1 л пенетранта. При использовании пенетранта и проявителя в аэрозольной упаковке расход их возрастает приблизительно в 1 5 раза. [5]
Метод устойчивых остаточных деформаций заключается в нанесении на поверхность контролируемого объекта специальной контрольной массы, фиксирующей утечку контрольного газа ( воздуха) образованием отдельных пузырей, пенных пятен и кратеров. Позволяет обнаруживать места негерметичности даже при сбросе давления в испытуемом объекте. [6]
Существенное влияние на чувствительность метода оказывает чистота обработки поверхности контролируемого объекта. Для обнаружения дефектов любых направлений применяют намагничивание в двух ( или более) взаимно перпендикулярных направлениях или комбинированное. [7]
Существенное влияние на чувствительность метода оказывает чистота обработки поверхности контролируемого объекта. Высокая чувствительность контроля может быть достигнута при шероховатости контролируемой поверхности Ra 1 6 мкм. Если шероховатость контролируемой поверхности Rz 40 мкм, то при прочих равных условиях могут быть обнаружены дефекты, примерно в 2 раза более грубые, т.е. с раскрытием вдвое большим при равном отношении глубины к раскрытию или со значительно большей глубиной. Это связано с тем, что на шероховатой поверхности создаются локальные магнитные поля, вызывающие осаждение порошка в виде вуали, на фоне которой тонкие дефекты становятся невидимыми. [8]
Существенное влияние на показания радиационного пирометра оказывает состояние поверхности контролируемого объекта, поскольку оно связано с его излучательной способностью. [9]
Существенное влияние на чувствительность метода оказывает чистота обработки поверхности контролируемого объекта. Высокая чувствительность контроля может быть достигнута при шероховатости контролируемой поверхности Ra 1 6 мкм. Если шероховатость контролируемой поверхности Rz 40 мкм, то при прочих равных условиях могут быть обнаружены дефекты, примерно в 2 раза более грубые, т.е. с раскрытием вдвое большим при равном отношении глубины к раскрытию или со значительно большей глубиной. Это связано с тем, что на шероховатой поверхности создаются локальные магнитные поля, вызывающие осаждение порошка в виде вуали, на фоне которой тонкие дефекты становятся невидимыми. [10]
Точность измерений зависит также от формы и качества поверхности контролируемого объекта, кратности увеличения, неточности фокусирования и диафрагмирования, ошибок микропары и от субъективных погрешностей. [11]
Существенное влияние на чувствительность метода оказывает чистота обработки поверхности контролируемого объекта. Для обнаружения дефектов любых направлений применяют намагничивание в двух ( или более) взаимно перпендикулярных направлениях или комбинированное. [12]
Существенное влияние на чувствительность метода оказывает чистота обработки поверхности контролируемого объекта. Это связано с тем, что на шероховатой поверхности создаются локальные магнитные поля, вызывающие осаждение порошка в виде вуали, на фоне которой тонкие дефекты становятся невидимыми. [13]
В основу ИК метода положено исследование тепловых полей на поверхности контролируемых объектов. При наличии дефектов тепловые поля изменяются. [14]
 |
Схема работы датчика Холла. [15] |
Страницы: 1 2 3 4