Cтраница 4
Тепловизионный метод или метод инфракрасной ( ПК) термографии основан на бесконтактной регистрации параметров температурного поля на поверхности контролируемого объекта. Измерение температуры с помощью ИК-систем основано на функциональной зависимости спектральной интенсивности ИК-излучения физического, тела от его температуры. Тепловизор преобразует подобное излучение в электрические сигналы, которые после усиления и автоматической обработки отображаются на экране дисплея разными по интенсивности черно-белыми полутонами или цветами. [46]
Существует несколько модификаций химического способа течеискания в зависимости от применяемого индикаторного вещества и метода нанесения индикатора на поверхность контролируемого объекта. [47]
![]() |
Упрощенная структурная схема импедансного дефектоскопа с совмещенным преобразователем, использующего непрерывное излучение и изгибные колебания. [48] |
Конструкции преобразователей обычно обеспечивают постоянство силы прижатия вибраторов и при контроле плоских изделий перпендикулярность их осей к поверхностям контролируемых объектов. [49]
Координаты источников акустической эмиссии вычисляют по разнице времени прихода ( РВП) сигналов на преобразователи, расположенные на поверхности контролируемого объекта. [50]
Координаты источников акустической эмиссии вычисляют по разнице времени прихода ( РВГГ) сигналов на преобразователи, расположенные на поверхности контролируемого объекта. [51]
Тепловизионный метод или метод инфракрасной ( ИК) термографии основан - на бесконтактной регистрации параметров температурного поля и поверхности контролируемого объекта. [52]
Для большей достоверности контроля электрическая проводимость измеряется не менее чем в 5 - 6 различных участках каждой стороны поверхности контролируемого объекта. [53]
Как видно из табл. 3.2, 1 - й класс герметичности требует применения масс-спектрометрического метода контроля и нагрева поверхности контролируемого объекта до температур 250 - 400 С. Контроль по 2-му классу герметичности можно проводить не только масс-спектрометрическим, но также люминесцентно-гидравли-ческим методом при большой разности давлений и выдержке 15 - 60 мин в зависимости от толщины стенки объекта. [54]
При видимости V 1 на окружающем фоне даже крупные дефекты не могут быть обнаружены глазом из-за малого контраста на поверхности контролируемого объекта. [55]