Передняя поверхность - пластина
Cтраница 2
 |
Зоны контакта обрабатываемого ( 12Х18Н9Т и инструментального ( ВК8 материалов при рассмотрении на электронном микроскопе ( t 3 мм. S 0 5 мм / об. и 27м / мин. [16] |
Подтверждением исследований по изучению характера износа режущих инструментов, выполненных в ЛПИ, служат наблюдения и эксперименты, проведенные на Днепровском машиностроительном заводе. Эксперименты показали, что при низких скоростях резания и недостаточном нагреве обрабатываемого материала основным видом разрушения твердосплавных пластин являются трещины и сколы режущей кромки, превышающие по своим размерам толщину среза, но меньшие, чем длина контакта между стружкой и передней поверхностью инструмента. Сколы образуются в основном на передней поверхности пластин. С увеличением скорости резания и температуры нагрева скол пластин уменьшается, но на изношенной поверхности появляются участки адгезионного схватывания частиц обрабатываемого материала с твердым сплавом; число этих очагов схватывания возрастает по мере увеличения температуры нагрева. Мик-рорентгеноспектральный анализ зоны контакта резец - стружка, выполненный на микроанализаторе Cameca M46, не показал диффузию вольфрама, углерода и кобальта в прирезцовые слои стружки как при обычном резании, так и при ПМО. С), когда диффузионные процессы могут быть малоактивными или, во всяком случае, могут протекать в столь тонких слоях металла, для которых разрешающая способность микроанализатора является недостаточной. При ПМО частицы обрабатываемого металла плотно заполняют неровности поверхности твердого сплава. [17]
Микроскоп, использующий дифракцию медленных электронов на поверхности, был изобретен Бауэром ( 1962) и оказался весьма мощным для получения детальной информации о процессах, происходящих на поверхности монокристалла под действием нагревания и / или осаждения на нее различных атомов. На рис. 3.21 показана схема устройства этого микроскопа. Сфокусированный пучок направляется в специальную линзу ( катодную линзу), расположенную непосредственно перед исследуемой поверхностью. Далее пучок может дифрагировать на поверхности монокристалла, порождая ряд рассеянных лучей, как это имеет место в ДМЭ. Дифрагированные электроны проходят обратно сквозь катодную линзу, ускоряются в ней снова до 20кэВ и отклоняются в магнитном секторе в сторону экрана. Если магнитная пропускающая линза сфокусирована на заднюю фокальную плоскость катодной линзы, то может быть сформировано изображение ДМЭ-кар-тины на передней поверхности микроканальной пластины, служащей детектором. Есть и другой вариант эксперимента: апертуру ( отверстие) на задней фокальной плоскости катодной линзы можно расположить так, чтобы через передаточную линзу проходил только один дифрагированный луч. [18]
Страницы: 1 2