Проверяемая поверхность

Cтраница 2

На проверяемую поверхность р накладывают эталонную пластинку э, освещают ее монохроматическим светом и наблюдают интерференционную картину. При высоком качестве полировки видны параллельные интерференционные полосы. [16]

На проверяемую поверхность в заданном направлении устанавливается поверочная линейка на двух мерных плитках одинаковой высоты, расположенных в точках наименьшего прогиба линейки. По линейке перемещается ползун с индикатором ( миниметром), мерительный штифт которого касается проверяемой поверхности. [17]

На проверяемую поверхность на линейке с подложенными под нее одинаковой высоты мерными плитками устанавливается уровень. Расстояние между опорами не должно превышать / ю длины проверяемой поверхности. С помощью уровня измеряется поочередно наклон каждого участка профиля сечения проверяемой поверхности. По показаниям уровня строится график формы профиля сечения. Через две наиболее удаленные выступающие точки профиля сечения проводится прямая линия, определяющая общее направление линии профиля сечения. В соответствии с этим графиком строится приведенный график, в котором указанная прямая линия совмещается с осью абсцисс, а ординаты точек линии сечения находятся из данных основного графика. [18]

Cxi. viM измерения отклонений формы цилиндрических деталей. [19]

С проверяемой поверхностью детали соприкасается наконечник преобразователя 3, совершающий только радиальные колебания, соответствующие изменениям радиуса детали. [20]

Для сличения проверяемой поверхности с образцовой поверхностью применяются также пневматические методы, показанные выше, на фиг. [21]

По отклонениям проверяемой поверхности от параллельности к этому перпендикуляру судят об ее отклонении от перпендикулярности относительно той поверхности, к которой она должна быть перпендикулярна. [22]

При расположении проверяемых поверхностей под углами, меньшими или большими 90Э, отклонения определяют угломерами или специальными шаблонами. [23]

Стол конструкции Н. М. Кудрявцева для разборки деталей арматуры при ее ревизии. [24]

После этого осматривают проверяемые поверхности. Притертыми считают те поверхности, на которых не остаются следы рисок, нанесенных ранее карандашом. [25]

Схема профилометра конструкции В. М. Киселева.| Двойной микроскоп конструкции В. П. Линника. [26]

Датчик перемещается по проверяемой поверхности со скоростью 10 - 20 мм / сек. [27]

Если порошок на проверяемой поверхности в зоне 100 - 125 мм от включенного дефектоскопа не перемещается, это свидетельствует о неисправности дефектоскопа или неудовлетворительном качестве порошка. [28]

Уровень перемещают по проверяемой поверхности в определенных направлениях. По результатам измерения расположения точек проверяемого сечения относительно базовой плоскости строят профилограммы сечений. Отклонения от плоскостности отсчитывают относительно принятой за исходную средней точки реальной поверхности. [29]

Коллиматор устанавливается на проверяемой поверхности в заданном направлении. Рядом неподвижно устанавливают зрительную трубу, посредством которой производят наблюдения за коллиматором. Объективы коллиматора и зрительной трубы расположены так, что в начале и в конце измеряемого сечения поверхности на заданной длине пучок света, исходящий из коллиматора, пересекает в одном и том же месте штриховую пластинку зрительной трубы. [30]

Страницы: 1 2 3 4