Cтраница 1
Повышение разрешающей способности сопровождается снижением коэффициента светопропускания, увеличением степени неравномерности распределения его по полю изображения, уменьшением апертуры и снижением контраста передаваемого изображения. [1]
Повышение разрешающей способности связано с уменьшением диаметра оптического волокна за счет уменьшения диаметра све-товедущей жилы, так как толщина оболочки должна иметь определенное минимальное значение ( не зависящее от диаметра све-товедущей жилы), исключающее возможность проникновения света через боковую поверхность волокна, что может привести в коротких световодах к созданию паразитного фона на поверхности изображения. Таким образом, при уменьшении диаметра световедущей жилы увеличивается относительная площадь сечения волоконного элемента, занимаемая оболочками. Это приводит к снижению светопропускания волоконного элемента и повышению периода неравномерности распределения коэффициента светопропускания по полю передаваемого изображения. [2]
Повышение разрешающей способности реализуется путем улучшения качества фокусировки вновь разрабатываемых трубок. Однако эти данный относятся к трубкам с однослойным покрытием экранов, не обеспечивающим, как правило, необходимой длительности послесвечения отметок сигналов. [3]
Изображение дефекта в аустенитном сварном шве диаметром 325 х 16 мм. [4] |
Повышение разрешающей способности по сравнению с указанным в разд. [5]
Повышение разрешающей способности при заданном радиусе траектории пучка определяется также качеством ионных источников, обеспечивающих малый разброс ионов по энергиям и возможностью использования узких щелей с возможно меньшей потерей чувствительности прибора. [6]
Повышение разрешающей способности датчика по времени требует повышения жесткости диэлектрической пленки, что невыполнимо, или снижения толщины датчика. [7]
Повышение разрешающей способности микроскопов достигается гл.обр. совершенствованием электронной оптики и применением новых видов электронных пушек. [8]
Повышение разрешающей способности оптической фотолитографии с одновременным увеличением диаметра рабочего поля является одной из важнейших задач современной технологии. В оптическом диапазоне длин волн даже при использовании самых совершенных безаберрационных объективов разрешение метода не лучше 0 50 мкм, что во многих случаях уже не удовлетворяет требованиям технологов при производстве БИС. Методы формирования изображения в различных регистрирующих материалах развиваются главным образом в трех направлениях: проекционная фотолитография, рентгенолитография, электронолитография. [9]
Фиксация детали Г - образными пальцами. [10] |
Повышение разрешающей способности измерения размера детали по каждому ряду пальцев позволяет систематизировать эту погрешность, сделав ее всегда положительной величиной. [11]
Схема измерения индуктивности методом куметра.| Схема измерения индуктивности и емкости методом двух генераторов. [12] |
Для повышения разрешающей способности и точности измерений применяются два генератора, а момент резонанса фиксируется по нулевым биениям. [13]
Для повышения разрешающей способности в приборе И2 - 24 используется счетно-импульсный метод нониусного типа. [14]
Для повышения разрешающей способности этой методики предусмотрено измерение износа шин с большой точностью с помощью специальной измерительной установки ( см. рис. 10.2) и планирование эксперимента таким образом, чтобы шины работали приблизительно в одинаковых условиях. [15]