Cтраница 1
Положение экрана, на котором пелетон просмотр мидеофрагмента, а также его размеры могут бьпь изменены. При подведении указателя мыши к любому из квадра-тикон, он принимает виз двунаправленной стрелки. Для изменения положения экрана, следует цвести указатель мыши и поле экрана, и после того, как он примет вид нсепамравлепноч стрелки, nepeia - щнть его к нужное положение. При этом следует помнить, что координата 0 0 соотнетстнует иерчнему левому углу экрана. [1]
Меняя положение экрана и линзы, повторяют измерения три раза. [2]
Меняя положение экрана и линзы, измеряют величины АВ, А В и Ь три раза. [3]
Меняя положение экрана и линзы, повторяют измерения три раза. [4]
Меняя положение экрана и линзы, измеряют величины АВ, А В и Ь три раза. [5]
![]() |
Фотоэлектрический прибор для опре. [6] |
В положении экрана, указанном на чертеже, лучи, собирающиеся в точке А, пройдут беспрепятственно и попадут на фотоэлемент; если же экран поместить в точку А, эти лучи будут задерживаться полностью. [7]
Однако имеются два положения экрана, при которых изображения получаются в виде прямых черточек. [8]
При определении размеров и положения экранов ( если частота смены изображений близка к КЧМ) важно учитывать соотношения центральной и периферических ( боковых) зон бинокулярного зрения. При обычных условиях наблюдения КЧМ лежит в пределах 15 - 25 Гц и возрастает с увеличением яркости площадки светящегося мелькающего поля. [9]
![]() |
Электрическая схема регулирующего милливольтметра МР. [10] |
Таким образом, в зависимости от положения экрана, фотосопротивление или полностью освещается лампочкой или затемняется. [11]
Если импульс отдачи определен очень точно, то положение экрана будет полностью неопределенным, и дифракционная картина исчезнет - любое зерно на фотопластинке может почернеть с одинаковой вероятностью. Электрон будет такой же плоской волной, как и до экрана, только с новым определенным значением импульса. [12]
Расстояние между интерференционными полосами не будет зависеть от положения экрана только в том случае, если источник расположен в фокальной плоскости линзы. [13]
![]() |
Оптическая схема профилометра Ю.В. Коломийцева.| Схема многолучевого интерферометра. [14] |
При наблюдении поверхности зеркала 2 в зависимости от положения экрана можно увидеть картины / - IV. Если нож 1 точно расположить в плоскости источника, то его перемещение в направлении, перпендикулярном к оси зеркала, вызовет плавное уменьшение яркости изображения. При этом дефекты поверхности проявляются в виде пятна, половина которого темная, а половина светлая. [15]