Положение - экран
Cтраница 2
 |
Оптическая схема профилометра Ю.В. Коломийцева.| Схема многолучевого интерферометра. [16] |
При наблюдении поверхности зеркала 2 в зависимости от положения экрана можно увидеть картины / - IV. Если нож / точно расположить в плоскости источника, то его перемещение в направлении, перпендикулярном к оси зеркала, вызовет плавное уменьшение яркости изображения. При этом дефекты поверхности проявляются в виде пятна, половина которого темная, а половина светлая. [17]
Сила света изображения данного точечного источника не бависит от положения экрана. [18]
Фокус О не представляет собой математической точки, поэтому при положении экрана N % мгновенного перекрытия всех лучей, идущих к глазу Г, не происходит. Фронт волны быстро и равномерно гаснет по всей поверхности. [19]
 |
Схема хода лучей в оптической. [20] |
Масштаб изображения зависит от размеров передаточной системы, упругости динамометрического кольца и положения экрана. [21]
Вычисляют для каждой кольцевой диафрагмы продольную сферическую аберрацию как разность между данным и нулевым положениями экрана. [22]
Центрирование начинают с того, что рейтер с экраном придвигают вплотную к осветителю и регулируют положение экрана так, чтобы его центр совпал с центром светлого пятна. После ятого отодвигают экран на расстояние порядка 1 м от осветителя и между ними на рейтере помещают одну из положительных линз. Передвигая рейтер с линзой, получают на экране изобра - / жение круглого окошка осветителя. [23]
Если в начальный момент нам точно известен импульс рх экрана вдоль оси Ох, то положение экрана вдоль оси Ох ( а следовательно, и абсцисса а первой щели) остается неизвестным, поскольку все значения х будут равновероятны. [24]
Сходящийся световой пучок и телескопическая система линз позволяет изменять размеры отображаемой информации за счет изменения положения экрана. Минимальный диаметр светового луча может составлять несколько десятков микрон [1], Это дает возможность успешно использовать устройство дискретного отклонения светового луча для считывания из памяти на фотоносителе. Считывание информации из памяти возможно как в последовательном, так и в параллельном коде. [25]
Указанное влияние физически можно объяснить изменением плотности тока в области расположения измерительных электродов в зависимости от положения слабопроводящего экрана ( соседнего пласта высокого сопротивления) относительно токового электрода. [26]
Установка осветителя для работы в проходящем снизу свете и объектива соответствующего увеличения, а также регулировка положения экрана, производятся до начала работы лаборантом. [27]
Следует указать, что когда наблюдение ведется с помощью линзы ( рис. 92), то при положении экрана в главном фокусе различным углам ф соответствуют отдельные точки экрана. [28]
 |
Астигматизм линзы. изображения точки, лежащей на побочной оси, представляют собой две взаимно перпендикулярные линии, лежащие в разных плоскостях. [29] |
Однако, в отличие от того случая, когда источник находился на главной оси линзы, изображение в указанных двух положениях экрана имеет вид не точки, а отрезка прямой. Во всех остальных положениях экрана изображение расплывчатое, овальное пли круглое. [30]
Страницы: 1 2 3 4 5