Полоса - наложение
Cтраница 1
Полосы наложения применяются и для сравнения толщины эталона Фабри - Перо с концевой мерой большой длины. Эталон Фабри - Перо и интерферометр Майкельсона освещаются параллельным пучком лучей. В этой системе могут наблюдаться интерференционные полосы наложения равной толщины. Если расстояние между референтной плоскостью R и зеркалом М2 в т раз больше длины эталона Фабри - Перо, то разность хода между лучами, т раз отразившимися между зеркалами эталона Фабри - Перо и затем разделенными зеркалом М, будет мала и интерференционная картина может наблюдаться в белом свете. [1]
 |
Оптическая схема совместного использования ИФП и интерферометра Майкельсона. [2] |
Полосы наложения применяются также для сравнения толщины эталона Фабри-Перо с концевой мерой большой длины L. Эталон Фабри - Перо и интерферометр Майкельсона освещаются параллельным пучком лучей. В этой системе могут наблюдаться интерференционные полосы наложения равной толщины. Если расстояние между плоскостью R и зеркалом М2 в m раз больше длины / эталона Фабри-Перо, то разность хода между лучами, т раз отразившимися между зеркалами эталона Фабри - Перо и затем разделенными зеркалом М, будет мала и интерференционная картина может наблюдаться в белом свете. [3]
Для получения полос наложения следует считать, что свет не-монохроматичен. [4]
Формулу пропускания для рассматриваемой системы при образовании полос наложения можно получить так же, как это было выполнено в § 8 для двухзеркальной системы. В результате можно выделить группы, в которых будут объединены лучи, прошедшие приблизительно равные оптические пути. Лучи в этих группах складывают по амплитуде с учетом разности фаз между ними. [5]
Для сравнения эталонов длин применяется схема для наблюдения полос наложения. Как было показано ранее в § 19, при больших и неравных расстояниях между зеркалами эталонов Ci и С2 наблюдается интерференционная картина полос наложения малых порядков интерференции. На рис. 24.2 изображены два эталона длины Ci и С2, выполненные в виде кварцевых цилиндров. [6]
 |
Схема использования полос наложения для сравнения длин. [7] |
Для сравнения длин эталонов применяется схема для наблюдения полос наложения. При больших и неравных расстояниях между зеркалами эталонов С и С2 наблюдается интерференционная картина полос наложения порядков интерференции. На рис. 3.8.2 изображены два эталона длиной С и С2, выполненные в виде кварцевых цилиндров. Торцы цилиндров находятся в оптическом контакте с плоскими полупрозрачными пластинами. [8]
Соотношение (9.4) по существу определяет допустимую немонохроматичность источника в случае наблюдения полос наложения. [9]
Из всего набора лучей, возникших в трехзеркальной системе, при образовании полос наложения интерферируют лучи, принадлежащие к одной группе. Так же как в случае четырех зеркал, число лучей в каждой группе растет с номером группы. [10]
В этом случае уменьшится и разность между минимальными и максимальными значениями (9.2) и контраст полос наложения будет практически равен нулю. [11]
При наблюдении полос наложения порядок интерференционной картины определяется не величиной расстояния между зеркалами каждого из интерферометров, а их разностью. [12]
Рассмотрение особенностей четырехпластинчатого интерферометра, проведенное в гл. В этом случае образуются полосы наложения с низкими порядками интерференции. Экспериментальные данные [104] подтверждают изложенное выше. [13]
Своеобразные интерференционные явления двух лучей можно наблюдать, если использовать две плоскопараллельные пластины, расположенные последовательно друг за другом. Получающиеся при этом полосы называют полосами наложения или полосами Брюстера, так как они впервые были описаны в 1815 году французским ученым Брюстером. [14]
 |
Схема использования полос наложения для сравнения длин. [15] |
Страницы: 1 2