Cтраница 1
Построение подобной аналитической кривой является градуировкой данного метода количественного спектрального анализа. [1]
После построения аналитической кривой анализ сводится к определению lg С по измеренному значению AS в исследуемом образце. [2]
До построения аналитической кривой необходимо проверить при данных экспериментальных условиях воспроизводимость величин ДУ. Если такие экспериментальные условия не обеспечивают соответствующей воспроизводимости, то следует подобрать другие, которые позволяют получить удовлетворительные результаты. Более того, желательно по кривым обжига в дуге или кривым обыскрива-ния найти наиболее удобное время измерения. [3]
Однако при построении аналитических кривых вида ( 4 - 6) постоянный коэффициент для перехода от весовой концентрации к атомной войдет в виде дополнительного слагаемого, кото рое не изменит вида кривой. [4]
Если при построении аналитической кривой количества определяемого элемента и элемента сравнения выражать не в единицах концентрации сх и сг соответственно, а в единицах абсолютной массы, веса или объема, то и конечный результат будет получен в соответствующих единицах. [5]
![]() |
Под влиянием ности и благодаря этому воспроизводи-фонового излучения прямо - мость анали3а. [6] |
Увеличивается количество стандартных образцов, необходимое для построения аналитической кривой. Хотя в принципе для построения прямолинейного градуировочного графика достаточно двух стандартных образцов, практически обычно требуется три-четыре образца. Для построения нелинейного графика требуется много больше стандартных образцов, что удлиняет и удорожает анализ. [7]
Эталонные образцы желательно готовить в количествах, больших, чем необходимо для одного анализа или для построения аналитической кривой. [8]
В исключительном случае, когда концентрация элемента сравнения сг постоянна и одинакова как в стандартных образцах, используемых для построения аналитической кривой, так и в анализируемых пробах, отпадает необходимость в преобразовании с х в сх. [9]
Данные по концентрациям эталонных образцов вместе с характеристикой их спектров являются основой для аналитической кривой метода определения. При построении аналитической кривой необходимы эталонные образцы по крайней мере трех-четырех различных концентраций ( внутри одного порядка величины), которые бы охватывали всю исследуемую область. Среди этих образцов всегда должен быть один, состав которого был бы близок к составу исследуемой пробы. Идентичность спектров зависит не только от химического состава образцов, но и от их микроструктуры, метода термической обработки и подготовки проб, от процессов разложения их материала ( в частности, от степени разложения) и, наконец, от характера возбуждения. Выбором соответствующих условий возбуждения можно уменьшить или полностью устранить изменения в излучении, вызванные различием в структуре материалов. Таким образом, степень близости спектров данных образцов зависит от экспериментальных условий. [10]
![]() |
Принцип определения времени изосек-компенсации ft. [11] |
Мешающее влияние посторонних элементов ( разд. Поэтому для построения аналитической кривой следует использовать стандартные образцы, содержащие посторонние элементы в том же количестве и в том же виде, что и в анализируемой пробе ( разд. Поскольку в практическом анализе это требование очень редко строго соблюдается, были предприняты значительные усилия для разработки методов анализа, в которых устранялось влияние третьих элементов. К методам такого типа относятся методы изосек - и анизосек-компенсации. Для достижения желаемой цели в обоих методах используется корреляция между влиянием третьих элементов и эффектом обыскривания ( разд. [12]
Каждый график состоит из трех кривых О А, OD и О С, соответствующих измерениям оптических плотностей трех серии смесей. Эти кривые использовались для построения аналитических кривых, которое производят следующим образом. [13]
Метод трех эталонов непригоден в качестве экспрессного метода из-за больших затрат времени на построение аналитической кривой. Поэтому практически важно проводить анализ по заранее построенной кривой. [14]
Невозможно получить линейный градуировочный график в координатах lg с, ДУ, если пренебречь мешающим влиянием внешних примесей. Это приводит к некоторым трудностям: нельзя применять метод общей аналитической кривой; для построения аналитической кривой требуется много больше стандартных образцов; точность анализа существенно снижается не только при использовании интерполяции, но особенно при экстраполяции, которую необходимо часто применять при анализе следов элементов. [15]