Построение - аналитическая кривая
Cтраница 2
ЕГ обозначает разность между величинами АУе для двух длин волн. Поскольку последний член постоянен при идентичных условиях фотографирования, им можно пренебречь как при расчетах, так и при построении аналитической кривой. [16]
Как правило, матрица непостоянна и ее состав обычно неизвестен. Поэтому наиболее целесообразный путь состоит в определении значений Т и ре по данным, полученным из спектров образцов с известным содержанием элемента х, используемых для построения аналитической кривой, и из спектров анализируемых проб. Из-за различий составов проб и стандартных образцов эти значения будут отличаться друг от друга. Для стандартных условий были выбраны средние значения: Ts 5500 К и pes Ю-4 бар. [17]
 |
Приставка Спектролюкс фирмы Фюсс. [18] |
Кроме этих благоприятных особенностей спектроскоп отличается также простой, легкой, совершенно герметичной и пылезащитно конструкцией. Как спектроскоп, измеряющий интенсивность, он обладает всеми недостатками принципа измерения с помощью поляризации ( разд. Последнее особенно нежелательно, поскольку затрудняет построение аналитических кривых и шкал концентраций. Наконец, недостатком является и то, что линии аналитических пар нельзя подвести одну под другую и из поля зрения нельзя убрать соседние линии. [19]
 |
Влияние фона на спектрометрический ( а и спектрографический ( б. [20] |
Так же как и в спектрографическом анализе, аналитическая кривая строится с помощью образцов известного состава. Однако вследствие возможности точного измерения отношения интенсивностей повторное построение аналитической кривой в каждой серии анализов становится излишним. Во всяком случае делать это было бы затруднительно, поскольку для точного построения нелинейного градуировочного графика необходимо большое число образцов. Однако аналитическая кривая, используемая в течение длительного периода времени, может не обеспечивать точных результатов анализа. При обсуждении спектрографического анализа ( разд. [21]
Если длина столба велика, то очень сильное поглощение радиации происходит уже при малых концентрациях, и увеличение концентрации заметно не влияет на количество тепла, выделяющегося в объеме газа. Если длина столба мала, количество тепла, выделившееся во всем объеме, линейно зависит от концентрации, и этим можно воспользоваться для построения аналитической кривой. [22]
Преимущество метода количественного спектрального анализа, основанного на эталонных образцах, состоит в его простоте. Недостаток метода в том, что на каждой спектральной пластинке необходимо фотографировать спектры эталонных образцов. Это приводит не только к дополнительным трудозатратам, но и к быстрому расходованию ценных стандартных образцов. Кроме того, аналитическую кривую не удается построить достаточно точно. Из-за недостатка места на фотопластинке невозможно фотографировать на ней много параллельных спектров большого числа эталонных образцов. Поэтому погрешности построения аналитической кривой приводят к систематическим ошибкам в результатах анализа. Достигаемая в этом методе правильность и точность определения хуже, чем в обсуждаемых ниже методах, в которых не используются эталонные образцы. [23]
При предварительном обогащении необходимо контролировать степень полноты обогащения, имея в виду, что при осаждении основных элементов будет уноситься и некоторая доля определяемых примесей; при ионообменной адсорбции примесь не полностью адсорбируется. Контроль полноты обогащения легко осуществляется с применением радиоактивных изотопов редкоземельных элементов, например лантана. Использование метода добавок позволяет проводить анализ без контроля полноты обогащения. Для этого на основе исходной пробы приготавливаются пробы с известными добавками определяемого элемента. Полученные пробы проходят одинаковый процесс обогащения, при котором вводится также и внутренний стандарт, если это необходимо. Можно считать, что потери определяемого элемента вместе с добавками происходят одинаково во всех пробах. При построении аналитических кривых по оси абсцисс откладываются величины добавленных концентраций без учета потерь: легко видеть из (4.28), что указанные потери приведут к появлению коэффициента при концентрации С - - Х, что скажется на уменьшении наклона прямой. [24]
Небольшие изменения отношения интенсивностей 1Х / 1Г могут происходить из-за изменения характеристик фотоумножителя и электроники, подсоединенной к нему. Последнее обстоятельство сопровождается приблизительно параллельным смещением аналитической кривой и изменением ее наклона. Собственное усиление и чувствительность фотоумножителей также слегка меняются во времени. Параллельное смещение аналитических кривых и изменение их наклона заставляет использовать метод корректирующих образцов. Этот метод отличается от подобного в спектрографическом анализе тем, что здесь необходимо иметь только два корректирующих образца. Один из них должен содержать элемент х в концентрации, соответствующей нижнему, а другой - верхнему участку концентрационной области аналитической кривой. При построении первичной аналитической кривой вместе со стандартными образцами измеряют величины ( / / / -) i и ( / / / rh для корректирующих образцов. Очевидно, что определение этих величин желательно проводить так же, как и определение аналогичных величин для стандратных образцов - усреднением нескольких повторных измерений. Для облегчения корректировки некоторые приборы снабжаются двумя парами накопительных конденсаторов с близкими параметрами, которые можно подключать к каждому фотоумножителю элементов х и г. При обыскривании одного из корректирующих образцов заряжается первая пара накопительных конденсаторов х, г, при обыскривании другого - вторая пара. Затем одним из уже обсужденных методов измеряют величины Ux / Ur для первого и второго корректирующих образцов. [25]
Страницы: 1 2