Cтраница 1
Построение теста состоит в выборе минимального числа строк, при которых все отказы будут обнаружены. Эта задача приближенно может быть решена следующим образом: находят строку, содержащую максимальное число единиц, и вычеркивают те столбцы, у которых в этой строке записаны единицы. Входное слово, соответствующее данной строке, фиксируется, и процедура выбора строки и вычеркивания столбцов повторяется вновь. После того, как все столбцы будут вычеркнуты, зафиксированные слова составят тест проверки устройства. [1]
Построение теста проводим по схеме, применяемой в § 6.2. Формулируем систему условий, которым должен удовлетворять тест, а затем отыскиваем минимальное решение, соответствующее системе условий. [2]
Для построения минимального диагностического теста для исходного графа G необходимо дополнить приведенный граф GO изолированной вершиной без петли ( этой вершине будут соответствовать строка и столбец, содержащие только нули) и затем воспользоваться методами, изложенными в предыдущих параграфах. [3]
![]() |
Тест для проверки индикаторного устройства, использующего ЭЛТ. [4] |
Характер построения теста должен давать возможность обнаружить неисправный участок проверяемой аппаратуры. [5]
При построении теста для схем с памятью может быть также использован модифицированный алгоритм Рота, основанный на представлении элементов памяти в виде макроблоков. Вход-выходное описание такого макроблока представляется в виде таблицы и используется как исходное для формирования картотеки макроблоков. Такое представление элементов памяти позволяет обнаруживать неисправности триггера путем контроля входов и выходов макроблока без обрыва цепей обратной связи. [6]
Содержательно задача построения теста состоит в том, чтобы найти ( вычислить, выбрать, назначить) такую совокупность и, возможно, последовательность входных воздействий, при подаче которой на объект диагностирования получаемые ответы объекта в заданных контрольных точках позволяют сделать заключение о его техническом состоянии. Проверяющие тесты предназначены для проверки исправности или работоспособности объекта, а тесты поиска дефектов - для указания места и, возможно, причин дефектов, нарушающих исправность или работоспособность объекта диагностирования. Для дискретных объектов тесты ( точнее, алгоритмы тестового диагностирования) строятся либо по структурным, либо по функциональным моделям объектов диагностирования. Для простых объектов модели могут быть явными, для сложных объектов всегда применяются неявные модели. Тесты могут быть детерминированными или вероятностными. Среди последних заметное место занимают тесты, представляющие собой псевдослучайные последовательности входных воздействий. [7]
![]() |
Схема причинно-следственных связей в хроматографической ЛИИС. [8] |
Рассмотрим пример построения диагностического теста для хроматографической системы. [9]
Изложим метод построения проверяющего теста для частных случаев. [10]
Данный подход применяется для построения диагностического теста, предназначенного для определения пути отыскания неисправности в направлении, обратном распространению сигналов о неисправности. [11]
Отсюда вытекает следующий метод построения минимального диагностического теста. [12]
Как уже отмечалось, для построения хорошего теста необходимо иметь модель неисправностей, которая содержит достаточно полный набор таких неисправностей. Очевидно, что модель неисправностей будет более полной при более полном функциональном описании самой модели. [13]
В этом случае используется следующий метод построения минимального диагностического теста. [14]
![]() |
Схема с реконвер-генцией. [15] |