Cтраница 2
Следующий этап, представляющий обратную фазу процедуры построения теста, заключается в последовательном доопределении неопределенных к этому моменту значений линий в направлении ко входам схемы. [16]
Применение этого приема обычно существенно сокращает затраты на построение теста. [17]
Следует отметить, что каждая конкретная таблица неисправностей содержит исходные данные, необходимые при построении диагностического теста либо программы диагностики конкретной технической системы. [18]
Создать оптимальные диагностические алгоритмы [11, 12, 95], определяющие в соответствии с некоторыми критериями принятия решений минимальную совокупность контрольных проверок, достаточную для различения всех состояний ОД ( построение теста), и для составления определенной последовательности ( программы) проведения проверок, входящих в тест. Операция контрольных проверок, как правило, должна совмещаться с операцией восстановления работоспособности ОД при вводе в действие определенных регулирующих устройств или вмешательстве человека - оператора. [19]
Рассмотрев все одиночные неисправности и найдя для каждой из них все корни соответствующего уравнения ( его полное решение), получим множество тестов для каждой одиночной неисправности, что достаточно для построения проверяющего теста. При отсутствии в ПЛМ необнаружимых неисправностей полный проверяющий тест для одиночных неисправностей обнаруживает и большую долю кратных неисправностей. [20]
Эти три вектора разбивают множество столбцов X на одноэлементные подмножества. Поэтому построение теста закончено. [21]
Для случая т-схем задача диагностики не имеет общего тривиального решения. Однако метод построения минимального теста ( матрица X с минимальным числом столбцов) для т-схем существует. [22]
Эти условия представляются столбцами вспомогательной троичной матрицы Мет строками. Матрица М используется для построения теста, обозначаемого матрицей X. В матрице X содержится т строк, а число столбцов равно мощности теста. В группе k 1 столбцов, один из которых отмечен. Именно эта пара наборов теста позволяет улавливать все неисправности типа появление транзистора в соответствующем участке ПМВ. Для минимизации числа столбцов X ( а значит, и для минимизации длины теста) предложена следующая процедура. [23]
Какой конкурирующий вариант может предложить И и с чего он начинает работу. Он понимает, что единственный приемлемый по трудоемкости способ генерации тестовых наборов может быть связан с построением теста непосредственно по схеме, а не по оператору, реализуемому этой схемой. Помня о сложившейся в теории синтеза методологии, И начинает с получения нижних оценок для числа контрольных тестов. [24]
К числу наиболее известных интерпретаций Р - задачи относятся ставшие классическими задачи о минимизации булевых функций в классе дизъюнктивных нормальных форм ( ДНФ) и о минимизации длины кода внутренних состояний асинхронного автомата. Проведенный в [10] анализ рассматриваемых в работе [21] оптимизационных задач проектирования дискретных устройств в базисе ПЛМ показал, что кроме упомянутых выше задач минимизации ДНФ булевых функций и минимизации длины кода внутренних состояний асинхронного автомата интерпретациями Р - задачи являются также разнообразные оптимизационные задачи, возникающие при синтезе одноярусных сетей из ПЛМ, минимизации секвенциальных автоматов, нахождении минимального дизъюнктивного базиса для заданного множества булевых векторов, построении проверяющего теста для транзисторной матрицы, реализующей систему элементарных конъюнкций, а также при построении диагностического теста для дизъюнктивной матричной схемы, если в ней возможны любые кратные неисправности типа исчезновения транзисторов. [25]
К числу наиболее известных интерпретаций Р - задачи относятся ставшие классическими задачи о минимизации булевых функций в классе дизъюнктивных нормальных форм ( ДНФ) и о минимизации длины кода внутренних состояний асинхронного автомата. Проведенный в [10] анализ рассматриваемых в работе [21] оптимизационных задач проектирования дискретных устройств в базисе ПЛМ показал, что кроме упомянутых выше задач минимизации ДНФ булевых функций и минимизации длины кода внутренних состояний асинхронного автомата интерпретациями Р - задачи являются также разнообразные оптимизационные задачи, возникающие при синтезе одноярусных сетей из ПЛМ, минимизации секвенциальных автоматов, нахождении минимального дизъюнктивного базиса для заданного множества булевых векторов, построении проверяющего теста для транзисторной матрицы, реализующей систему элементарных конъюнкций, а также при построении диагностического теста для дизъюнктивной матричной схемы, если в ней возможны любые кратные неисправности типа исчезновения транзисторов. [26]
Однако основные недостатки d - алгоритма сохраняются. Процедура построения теста продолжает использовать метод проб и ошибок, построение теста осуществляют для каждой неисправности из множества постулированных неисправностей. При рассмотрении реальных схем цифровых устройств, имеющих сравнительно большую размерность, набор тестов, полученных при помощи d - алгоритма, оказывается чрезвычайно большим и, очевидно, избыточным с точки зрения обнаружения всех неисправностей. Вместе с тем, так как при каждой удаче d - продвижения исключается рассмотрение других возможных вариантов, набор тестов оказывается неполным. [27]
Однако основные недостатки d - алгоритма сохраняются. Процедура построения теста продолжает использовать метод проб и ошибок, построение теста осуществляют для каждой неисправности из множества постулированных неисправностей. При рассмотрении реальных схем цифровых устройств, имеющих сравнительно большую размерность, набор тестов, полученных при помощи d - алгоритма, оказывается чрезвычайно большим и, очевидно, избыточным с точки зрения обнаружения всех неисправностей. Вместе с тем, так как при каждой удаче d - продвижения исключается рассмотрение других возможных вариантов, набор тестов оказывается неполным. [28]
Проверочные тесты предназначены для обнаружения факта неисправности ЭЦВМ. Они составляются с учетом специфики логической структуры и элементов машины. Система проверочных тестов включает в себя ряд испытательных программ, каждая из которых обеспечивает наиболее полный контроль одного из основных устройств ЭЦВМ - АУ, УУ, ЗУ, УВВ при разнообразных режимах работы. Для этого при построении проверочного теста стараются обеспечить его максимальную автономность. А это означает, что каждый отдельный тест осуществляет полную проверку контролируемого устройства в утяжеленных режимах, а остальные устройства машины используются минимально и в облегченных режимах. [29]
Главным из недостатков аналитического подхода является фрагментарный, разорванный характер получаемой информации. Показатели психологических испытаний, получаемые с помощью аналитических методик, отнюдь не равнозначны и не совпадают с данными исследования этих же функций в их структурной взаимосвязи в условиях совмещенной деятельности. Это объясняет, как правило, низкую диагностическую ценность методик подобного типа. Существенно и то, что конкретные особенности построения теста и условий его применения заметно влияют на частоту и полноту информации об изучаемом психическом свойстве. [30]