Потенциал - мишень
Cтраница 3
Плотность напыляемого ионного пучка можно регулировать изменением тока эмиссии вольфрамового катода, давления инертного газа, а также напряженности магнитного поля соленоида, с помощью которого легко повысить концентрацию плазмы и увеличить скорость распыления при неизменном потенциале мишени. Скорость осаждения может изменяться в очень широких пределах: от нескольких ангстрем до нескольких тысяч ангстрем в минуту. Количество распыленного материала линейно зависит от времени, а толщина пленки при постоянном режиме разряда определяется соотношением между током мишени, напряжением на ней и временем распыления. Для получения очень тонких пленок нужно подавать на мишень небольшое напряжение ( около 200 в), при котором получаются очень малые и хорошо регулируемые скорости осаждения. Равномерность толщины пленки при ионно-плазменном распылении достигает 1 - 2 %, что значительно выше, чем при распылении в тлеющем разряде, где искажения вносятся непроводящей подложкой, расположенной между катодом и анодом. [31]
Вторичные электроны улавливаются сеткой, которая хотя и имеет низкий потенциал ( 1 В), но близко расположена к мишени, благодаря чему создает большое отбирающее поле для электронов и тем самым препятствует существенному возрастанию потенциала мишени относительно потенциала сетки. [32]
 |
Потенциалоскоп с видимым изображением потенциального рельефа. [33] |
При этом потенциал диэлектрика также повысится на величину приложенного напряжения, но под действием пучка электронов всспроизводящего прожектора на нем произойдет накопление дополнительного отрицательного заряда и после выключения кнопки ( снятия положительного сигнала с подложки сетки-мишени) потенциал мишени окажется меньшим потенциала катода на величину поданного напряжения. [34]
Если од 1 ( участок ВГЕ кривой), то количество электронов, теряемых мишенью, превышает количество попадающих на нее первичных электронов, что приводит к повышению потенциала мишени и сдвигу точки на кривой, характеризующей потенциал мишени, вправо, как показано на рисунке стрелкой. [35]
При максимальных оавещенностях на небольших участках изгиб характеристики получается выше, чем ори ( участках средних размеров, так как емкость по отношению к соседним заряженным участкам больше. Потенциалы мишени выше 2 в вызывают чрезмерное искривление пучка, что приводит к расширению границ изображения и потере деталей. При 4 о на сетке мишени и наибольшей освещенности, соответствующей изгибу характеристики, получается максимальное значение потенциала мишени, равное 2 в. Работа на участке характеристики ниже изгиба устраняет большинство трудностей, связанных с коммутацией и приводящих к появлению ореолов и окаймлений. Работа на участке характеристики за нагибам в черно-белом телевидении приводит к усилению контрастности на границах объектов и кажущемуся увеличению четкости изображения без повышения действительной разрешающей способности трубки, что обусловлено эффектом черного окаймления, вызываемого перераспределением вторичных электронов. [37]
Вто-рвй член правой части выражения найти нетрудно, так как величину фототока в течение кадра можно считать неизменной. Локальные изменения потенциалов мишени, вызванные перераспределением вторичных электронов при коммутации, мало влияют на условия бомбардировки мишени электронами, имеющими большую энергию. [38]
 |
Зависимость сигнала от по. [39] |
Из рис. 7.3 и 7.4 видно, что изменение потенциала коллектора не оказывает заметного влияния на уровень сигнала шума. Но увеличение потенциала мишени приводит к резкому уменьшению сигналов шума и возрастанию сигнала полезной информации. Таким образом, условия для получения максимального контраста записи потенциального рельефа должны обеспечиваться, когда режим работы прибора соответствует напряжениям на коллекторе, подложке и замедляющем электроде считывания соответственно 820, 840 и 900 В. Полученные результаты несколько отличаются от рекомендуемых разработчиками потенциалоскопа. В, которая также отличается от рекомендуемых. [40]
При Ua UKp2 коэффициент вторичной эмиссии вновь становится равным единице, а с дальнейшим увеличением ускоряющего напряжения - меньше единицы. При равенстве потенциалов мишени и катода электроны не будут оседать на мишени, поэтому коэффициент вторичной эмиссии при потенциале мишени, равном потенциалу катода, условно считают равным единице. [41]
В области быстрых электронов ст 1 и, следовательно, п2 п, поэтому всегда имеется избыток выбитых электронов. В этом случае потенциал мишени будет определяться потенциалом того электрода, на который уходят электроны. В частности, это может быть анод. [42]
Крь но меньше UKp2 о1, от мишени уходит больше вторичных электронов, чем приносится пучком, на поверхности мишени накапливается положительный заряд, потенциал мишени повышается. Однако заметного превышения потенциала мишени над потенциалом анода прожектора или коллектора не происходит, так как создающееся у поверхности мишени ускоряющее поле возвращает часть вторичных электронов на мишень, избыточный положительный заряд частично компенсируется. Таким образом, при кр а крг на поверхности мишени устанавливается равновесный потенциал, примерно равный потенциалу последнего анода прожектора или потенциалам расположенных вблизи мишени сетки или коллектора. [43]
Так как снижение потенциала мишени эквивалентно передаче более темных элементов изображения, светлое место изображения представляется окруженным темной каймой. Этот же эффект перераспределения вторичных электронов приводит к так называемому подчеркиванию границ светлых деталей изображения. И, наконец, уменьшение разрешающей способности при передаче объектов с большой градацией яркости объясняется эффектом растекания заряда по поверхности мишени. Особенно заметно растекание заряда при передаче объектов, имеющих мелкие яркие детали на слабо освещенном фоне. Большой заряд, накапливаемый на местах мишени, соответствующих ярко освещенными деталями объекта, заметно растекается по поверхности за время передачи одного кадра. Поэтому на изображении границы этих деталей становятся нерезкими. Таким образом, разрешающая способность трубки при передаче объектов с большой градацией яркости оказывается ниже, чем при передаче более равномерно освещенных объектов. [44]
В то же время коэффициент вторичной эмиссии оказывается больше единицы. Поэтому при развертке считывающим пучком потенциал мишени достигает равновесного значения, примерно равного потенциалу коллектора. [45]
Страницы: 1 2 3 4 5