Почернение - линия - определяемый элемент
Cтраница 2
Разность плотности почернения аналитической пары линий AS Si - 52 ( где Si - почернение линий определяемого элемента и S2 - линии сравнения) служит мерой относительной интенсивности этих двух линий. Связь между Д5 и концентрацией определяемого элемента находят, фотометрируя линии спектров эталонных образцов, в которых элемент, подлежащий определению, содержится в различных, но точно известных концентрациях. Существует большое количество различных вариантов фотографического метода спектрального анализа, приспособленного к особенностям разнообразных аналитических задач. [16]
Определение содержания примесей в концентрате производят по граду-ировочным графикам, построенным в координатах: почернение линий определяемых элементов - логарифм концентрации. [17]
На контрастных пластинках незначительное изменение экспозиции приводит к заметному изменению почернения. Благодаря этому почернение линии определяемого элемента заметно изменяется даже при незначительном изменении его концентрации в образцах, что очень важно для количественного анализа. [18]
 |
Градуировочный график для метода трех эталонов.| Градуировочный график для метода добавок. [19] |
При количественных определениях с помощью этого метода на фотопластинке фотографируют спектры трех-пяти эталонов и исследуемых проб при одних и тех же условиях не менее двух-трех раз. На спектрограммах измеряют почернения линии определяемого элемента и линии сравнения. [20]
Спектральный анализ концентрата производится путем испарения пробы из анода угольного электрода в дуге постоянного тока силой 10 а. Концентрация примесей определяется по граду-ировочным графикам, построенным в координатах: абсолютное почернение линии определяемого элемента - логарифм концентрации определяемой примеси в эталонах. [21]
Обзор литературы по спектральному анализу показывает, что до сих пор нет четкого определения понятий чувствительности и предела обнаружения при определении малых количеств элементов разными аналитическими методами. В фотографических методах эмиссионного спектрального анализа результаты анализа получают на основании измерений почернений линий определяемого элемента и фона. По разности этих двух сигналов определяют количество искомого элемента. Для объективной оценки величин сигналов ( почернение линии определяемого элемента и почернение фона возле этой линии) применяют статистические методы. [22]
Определение содержания примесей в концентрате производят по методу трех эталонов. Градуировочные графики строят в координатах AS - lg с, где AS - разность почернений линий определяемого элемента и близлежащего - фона. Используют следующие аналитические линии: Fe I 2483 27 A; Cd I 2288 02 А; Мп 2801 06 А; Си I 3247 54 А; Ni I 3050 82 A; Pb I 2833 07 А и Zn I 2138 56 А. [23]
Определение содержания примесей в концентрате производят по методу трех эталонов. Градуировочные графики строят в координатах AS - lg с, где AS - разность почернений линий определяемого элемента и близлежащего фона. Используют следующие аналитические линии: Fe I 2483 27 A; Cd I 2288 02 А; Мп 2801 06 А; Си I 3247 54 А; Ni I 3050 82 A; Pb I 2833 07 А и Zn I 2138 56 А. [24]
Из фотографических методов полуколичественного анализа следует назвать метод сравнения и метод появления или исчезновения чувствительных линий. В методе сравнения на одной пластинке фотографируют спектры нескольких эталонов и спектр пробы, а затем сравнивают на глаз почернение линий определяемого элемента в полученных спектрах. Такое сравнение позволяет установить пределы концентраций определяемого элемента. В методе появления или исчезновения линий сначала с помощью эталонов устанавливают, при каких концентрациях появляются или исчезают те или иные чувствительные линии элементов, а затем, опираясь на полученные данные, находят ориентировочное содержание элемента в пробе. [25]
Из фотографических методов полуколичественного анализа применяют метод спектров сравнения и метод появления или исчезновения чувствительных линий. В методе спектров сравнения на одной пластинке фотографируют спектры нескольких эталонов и спектр пробы, а затем сравнивают на глаз почернение линий определяемого элемента в полученных спектрах. Такое сравнение позволяет установить пределы концентраций анализируемого элемента. В методе появления или исчезновения линий сначала с помощью эталонов устанавливают, при каких концентрациях появляются или исчезают те или иные чувствительные линии элементов, а затем, используя полученные данные, находят ориентировочное содержание элемента в пробе. [26]
 |
Градуировочный график для определения марганца в стали методом трех эталонов. [27] |
Для количественного спектрального анализа по методу трех эталонов на одну пластинку фотографируют трижды спектры эталонных и неизвестных образцов. После фотометрирования аналитических пар элементов, заснятых на такой пластинке, производят определение разности почернения Д5 путем вычитания из значения величины почернения линии определяемого элемента почернение линии сравнения. После этого усредняют значение Д5 для каждого эталона и образца. Величины, отличающиеся друг от друга более, чем на 0 050, не учитываются. [28]
Фотопластинку со снятыми спектрами проявляют, промывают водой, фиксируют, снова тщательно промывают проточной водой и высушивают. Сухую фотопластинку фотометрируют на микрофотометре, пользуясь логарифмической шкалой и измеряя почернения линий определяемых элементов ( по подходящей ступени ослабителя) и соседнего фона. [29]
Определение содержания примесей в концентрате производят по методу трех эталонов. Градуировочные графики строят в координатах: AS - lg с, AS - разность почернений линии определяемого элемента и близлежащего фона. [30]
Страницы: 1 2 3