Количественный фазовый анализ
Cтраница 3
В последние годы широкое распространение получают методы рентгено-структурных исследований, связанные с ионизационной регистрацией дифрагированных лучей. Многие задачи ( качественный и количественный фазовый анализ, определение ориентировок и изучение структуры монокристаллов, изучение текстур и др.) с успехом решаются ионизационным методом [1], причем время исследования при переходе от фотографической регистрации к ионизационной существенно уменьшается. [32]
Этот ценный метод количественного фазового анализа позволяет производить автоматическую запись газовыделения и термических эффектов на одной и той же навеске в несколько миллиграмм. Одновременная запись нескольких физических характеристик, изучаемых в процессе нагревания исследуемого вещества с самой различной скоростью, требует применения автоматических форм записи показания приборов, проводимых в ряде случаев дистанционно. [33]
Анализ основан на количественном сравнении интенсивности линий разных фаз друг с другом или с интенсивностью линии эталона, снимаемого в тех же условиях. Поэтому в настоящее время для количественного фазового анализа используется главным образом дифракто-метр. [34]
 |
Схемы съемки в фокусирующей камере с применением монохроматора ( а - на отражение, б - на просвет. Ф - фокус рентгеновской трубки. М - кристалл-монохроматор. О - образец. Я - пленка. [35] |
Дифрактометрию целесообразно применять тогда, когда необходимы точные количественные измерения интегральной интенсивности или распределения интенсивности в зависимости от угла дифракции1, а также анализ интенсивности диффузного фона. Наиболее часто дифрактометрия используется при количественном фазовом анализе, прецизионном измерении периодов решетки и определении величины напряжений, при анализе формы и ширины интерференционного максимума, анализе текстур. [36]
На этом свойстве рентгеновских лучей основан количественный фазовый анализ. Интенсивность линий измеряют путем фотометрирования или используя ионизационные методы регистрации рентгеновских лучей. [37]
На этом свойстве рентгеновских лучей основан количественный фазовый анализ. Интенсивность линий измеряют путем фотометрирования, или используя ионизационные методы регистрации рентгеновских лучей. В некоторых специальных случаях интенсивность определяют на глаз. Построив экспериментально градуировочную - кривую зависимости процентного отношения интенсивностей фаз от их процентного содержания, можно с большей или меньшей точностью определить количественный состав катализатора. Ошибка анализа колеблется в пределах 1 - 30 % от содержания фазы в зависимости от исследуемых образцов и методики. [38]
 |
Градуировочный график для определения содержания Сз5 ( a, CjS ( б в клинкере. [39] |
По результатам измерений интенсивности отражений были построены градуиро-вочные графики, примеры которых для QS и CsS приведены на рис. 46, где на оси ординат откладывалась массовая доля соответствующего минерала в эталонной смеси, выраженная в %, а на оси абсцисс - величины отношения интенсивности аналитических линий минерала и эталона - флюорита. С помощью этих графиков был проведен количественный фазовый анализ ряда клинкеров. [40]
В последнее время в связи с широким распространением дифрактометров, позволяющих значительно точнее определять интенсивность дифракционных линий, увеличилось число работ по количественному фазовому анализу, который находит все большее применение в химических исследованиях. [41]
Количественный фазовый анализ базируется на том экспериментальном факте, что интенсивности дифракционных спектров отдельных фаз зависят от их процентного содержания в исследуемом образце. Однако эта зависимость достаточно сложна и не выражается в виде удобных для расчета математических формул. Поэтому для количественного фазового анализа используют полуэмпирические методы, заключающиеся в сравнении относительных интенсивностей дифракционных линий каждой из присутствующих в образце фаз с интенсивностями дифракционных линий для смесей тех же фаз с известным соотношением. Там же детально описаны экспериментальные приемы рентгеновского количественного фазового анализа. [42]
В этом ме-о-де широко используются принцип фокусировки по Брэггу-Брентано и регистрация с помощью счетчиков излучения. При этом система отражений получается от плоского поликристаллического образца; полученные результаты используются для определения постоянных решетки и заключения о реальной структуре материала образца. Результаты измерений могут быть также использованы для количественного фазового анализа и определения интегральной интенсивности. [43]
В этом м-е-о-де широко используются принцип фокусировки по Брэггу-Брентано и регистрация с помощью счетчиков излучения. При этом система отражений получается от плоского поликристаллического образца; полученные результаты используются для определения постоянных решетки и заключения о реальной структуре материала образца. Результаты измерений могут быть также использованы для количественного фазового анализа и определения интегральной интенсивности. [44]
В этом м-е о-де широко используются принцип фокусировки по Брэггу-Брентано и регистрация с помощью счетчиков излучения. При этом система отражений получается от плоского поликристаллического образца; полученные результаты используются для определения постоянных решетки и заключения о реальной структуре материала образца. Результаты измерений могут быть также использованы для количественного фазового анализа и определения интегральной интенсивности. [45]
Страницы: 1 2 3 4