Cтраница 2
![]() |
Данные по определению примесей в вольфраме. [16] |
Как видно из табл. 49, метод применялся только для определения элементов с большой летучестью. Этим, вероятно, вызвано то, что нагревание проб велось до более низких температур, чем это обычно делается при применении метода испарения. [17]
Анализ по этому методу проводится в два этапа. Затем этот электрод с конденсатом используется в качестве одного из электродов в источнике света при последующем спектральном анализе. Очевидно, что применение метода испарения тем более удобно, чем больше разница в упругости паров примесей и основного вещества пробы. [18]
Метод испарения основан на теоретической отгонке примесей на воздухе и в вакууме. Он был разработан применительно к анализу чистых атомных материалов. Кроме тугоплавких металлов ( Re, Mo, W) наиболее удобной формой для применения метода испарения являются оксиды металлов. [19]
Анализ по этому методу проводится в два этапа. Вначале в специальной испарительной установке ( в вакууме или в атмосфере воздуха) осуществляется отделение летучих примесей от менее летучей основы и конденсация паров элементов примесей па торец охлажденного медного или графитового капсюля. Затем капсюль с конденсатом используется в качество электрода в источнике света при последующем спектральном анализе. Очевидно, применение метода испарения тем более удобно, чем больше разница в упругости паров примесей и основного вещества пробы. Было показано, что он может быть с успехом применен для определения ряда примесей в окиси алюминия [4], урана [3] и некоторых других материалах. Нами совместно с Ю. И. Беляевым и М. В. Ахмановой [5] этот метод был применен для количественного определения Cd, Sb, Bi, Pb и Sn в молибдене и вольфраме высокой чистоты. [20]